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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability - Hardcover

Sharma, Ashok K.

 
9780780310001: Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Hardcover
ISBN 10: 0780310004 ISBN 13: 9780780310001
Verlag: Wiley-IEEE Press, 2002

Inhaltsangabe

Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.
* Memory cell structures and fabrication technologies.
* Application-specific memories and architectures.
* Memory design, fault modeling and test algorithms, limitations, and trade-offs.
* Space environment, radiation hardening process and design techniques, and radiation testing.
* Memory stacks and multichip modules for gigabyte storage.

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Über die Autorin bzw. den Autor

ASHOK K. SHARMA is the author of Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability. He is currently working as a reliability engineering manager at NASA, Goddard Space Flight Center, Greenbelt, Maryland.

„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Verlag
Wiley-IEEE Press
Erscheinungsdatum
2002
Sprache
Englisch
ISBN 10 
0780310004
ISBN 13 
9780780310001
Einband
Gebundene Ausgabe
Auflage
1
Anzahl der Seiten
480
Kontakt zum Hersteller
Wiley-VCH GmbH
product_safety@wiley.com

Boschstrasse 12
Weinheim
69469
Deutschland