Isbn: 9780750307482 - characterisation of radiation-damage by transmission electron microscopy (microscopy in materials science series) (6 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: CRC Press, 2000
Serie: Buch 3 von 5 - Series in Microscopy in Materials Science
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: CRC Press, 2000
Serie: Buch 3 von 5 - Series in Microscopy in Materials Science
- Hardcover
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Zustand: New. In English.
Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy
M.L Jenkins (University of Oxford, UK)|M.A Kirk (Argonne National Laboratory, Illinois, USA)
Sprache: Englisch
Verlag: CRC Press, 2000
Serie: Buch 3 von 5 - Series in Microscopy in Materials Science
- Hardcover
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Zustand: New. M.L Jenkins, M.A KirkCharacterization of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy details the electron microscopy methods used to investigate complex and fine-scale microstructures, such as those produced by fast-particle irradiation of meta.
Sprache: Englisch
Verlag: Taylor & Francis Ltd Nov 2000, 2000
Serie: Buch 3 von 5 - Series in Microscopy in Materials Science
- Hardcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - Characterization of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy details the electron microscopy methods used to investigate complex and fine-scale microstructures, such as those produced by fast-particle irradiation of metals or ion implantation of semiconductors. The book focuses on the methods used to characterize small point-defect clusters, such as dislocation loops, because the coverage in general microscopy textbooks is limited and omits many of the problems associated with the analysis of these defects. The book also describes in situ, high-resolution, and analytical techniques. Techniques are illustrated with examples, providing a solid overview of the contribution of TEM to radiation damage mechanisms. The book is most useful to researchers in, or entering into, the field of defect analysis in materials.…
Sprache: Englisch
Verlag: Inst of Physics Pub Inc, 2000
Serie: Buch 3 von 5 - Series in Microscopy in Materials Science
- Hardcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 224 pages. 9.75x6.25x0.75 inches. In Stock.
Sprache: Englisch
Verlag: CRC Press, 2000
Serie: Buch 3 von 5 - Series in Microscopy in Materials Science
- Hardcover
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USAKennys Bookstore
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Zustand: New. Details the electron microscopy methods used to investigate complex and fine-scale microstructures, such as those produced by fast-particle irradiation of metals or ion implantation of semiconductors. This book also focuses on the methods used to characterize small point-defect clusters, such as dislocation loops. Series: Series in Microscopy in Materials Science. Num Pages: 224 pages, references, index. BIC Classification: PDND; TGM. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 235 x 156 x 19. Weight in Grams: 476. . 2000. 1st Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.…
