Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy

Sprache: Englisch

Verlag: CRC Press, 2000

075030748X / 9780750307482

Serie: Buch 3 von 5 - Series in Microscopy in Materials Science

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Details the electron microscopy methods used to investigate complex and fine-scale microstructures, such as those produced by fast-particle irradiation of metals or ion implantation of semiconductors. This book also focuses on the methods used to characterize small point-defect clusters, such as dislocation loops. Series: Series in Microscopy in Materials Science. Num Pages: 224 pages, references, index. BIC Classification: PDND; TGM. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 235 x 156 x 19. Weight in Grams: 476. . 2000. 1st Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.

Bestandsnummer des Verkäufers V9780750307482

Titel
Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy
Autor
Jenkins, M.L
Verlag
CRC Press
Veröffentlichungsjahr
2000
Zustand
New
Einband
Hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
075030748X
ISBN-13
9780750307482
Serie
Buch 3 von 5: Series in Microscopy in Materials Science

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