ISBN: 9780720417579 - computed electron micrographs and defect identification (defects in crystalline solids s.) (1 Ergebnisse)
Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
A K Head, P Humble, L M Clarebrough, A J Morton and C T Forwood
- Hardcover
Anbieter: MB Books, Derbyshire, Vereinigtes KönigreichMB Books
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