Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids S.) - Hardcover

Head, A.K.; Etc.

9780720417579: Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids S.)

Hardcover

ISBN 10: 0720417570 ISBN 13: 9780720417579

Verlag: Elsevier Science Publishing Co Inc.,U.S., 1973

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Details zur Ausgabe

Verlag: Elsevier Science Publishing Co Inc.,U.S.
Erscheinungsdatum: 1973
Sprache: Englisch
ISBN 10: 0720417570
ISBN 13: 9780720417579
Einband: Gebundene Ausgabe
Anzahl der Seiten: 406
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)

A K Head, P Humble, L M Clarebrough, A J Morton and C T Forwood

Verlag: North-Holland Publishing Company, 1973

ISBN 10: 0720417570 ISBN 13: 9780720417579

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