9780471584896 - electromigration and electronic device degradation (6 Ergebnisse)
- Hardcover
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes KönigreichPBShop.store UK
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 221,55
EUR 6,85 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 15 verfügbar
HRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 237,17
EUR 13,98 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.
- Hardcover
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes KönigreichMajestic Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Neu
EUR 293,90
EUR 7,58 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 3 verfügbar
Zustand: New. pp. 344.
- Hardcover
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 257,59
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details.Über den AutorAr.
- Hardcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 342,22
EUR 14,59 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 343 pages. 9.75x6.50x0.75 inches. In Stock.
- Hardcover
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USAKennys Bookstore
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 377,31
EUR 9,12 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details. Editor(s): Christou, Aris. Num Pages: 344 pages, black & white illustrations. BIC Classification: PHK; TGP…R; TJK; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 236 x 165 x 26. Weight in Grams: 682. . 1993. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
