ISBN: 9780471584896 - electromigration and electronic device degradation (7 Ergebnisse)
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Gebunden. Zustand: New. This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details.Über den AutorAr.
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Zustand: New. This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details. Editor(s): Christou, Aris. Num Pages: 344 pages, black & white illustrations. BIC Classification: PHK; TGPR; TJK; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 236 x 165 x 26. Weight in Grams: 682. . 1993. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.…
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - Addresses electromigration failure modes in electronics covering both theory and experiments. Reviews silicon and GaAs technologies. Various rate controlling details are summarized including an investigation of temperature dependence. Concludes with a discussion regarding current status and future plans for electromigration resistant advanced metallization systems for VLSI.…
