ISBN: 9780471181729 - spectroscopic ellipsometry and reflectometry: a user's guide (9 Ergebnisse)
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Gebunden. Zustand: New. While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic.
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Zustand: New. While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometry. Num Pages: 248 pages, Illustrations. BIC Classification: PHJ; TGM. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 163 x 237 x 19. Weight in Grams: 516. . 1999. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.…
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - Mit Hilfe der Ellipsometrie mißt man Dicken und optische Eigenschaften dünner Filme. In den vergangenen Jahren hat die ellipsometrische Spektroskopie ebenso wie die eng verwandte Reflektometrie zunehmend die Industrielabors erobert. Dies schafft Bedarf an einer praxisnahen Einführung für ein interdisziplinäres Publikum von Materialwissenschaftlern, Physikern, Chemikern und Elektrotechnikern, wie sie mit diesem Buch gelungen ist. (04/99).…
