9780471181729 - spectroscopic ellipsometry and reflectometry: a user's guide von tompkins, harland g.; mcgahan, william a. (6 Ergebnisse)
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Zustand: New. While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic.
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Zustand: New. While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometry.…Num Pages: 248 pages, Illustrations. BIC Classification: PHJ; TGM. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 163 x 237 x 19. Weight in Grams: 516. . 1999. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
