9780444569974 - computed electron micrographs and defect identification, volume 7 von head, a. k. (1 Ergebnisse)
- Softcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 90,75
EUR 14,67 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Paperback. Zustand: Brand New. 412 pages. 9.00x6.00x0.93 inches. In Stock.
