Computed Electron Micrographs and Defect Identification, Volume 7 - Softcover

Head, A. K.

9780444569974: Computed Electron Micrographs and Defect Identification, Volume 7

Softcover

ISBN 10: 0444569979 ISBN 13: 9780444569974

Verlag: North Holland, 2012

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Details zur Ausgabe

Verlag: North Holland
Erscheinungsdatum: 2012
Sprache: Englisch
ISBN 10: 0444569979
ISBN 13: 9780444569974
Einband: Taschenbuch
Anzahl der Seiten: 412
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification, Volume 7

A. K. Head

Verlag: North Holland, 2012

ISBN 10: 0444569979 ISBN 13: 9780444569974

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Paperback. Zustand: Brand New. 412 pages. 9.00x6.00x0.93 inches. In Stock. Artikel-Nr. zk0444569979

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