9780387257372 - leakage in nanometer cmos technologies (integrated circuits and systems) (4 Ergebnisse)

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    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer, 2006

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      • Hardcover

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      gebundene Ausgabe. Zustand: Gut. 307 Seiten; Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); Schnitt und Einband sind etwas staubschmutzig; der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend g

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer, 2005

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      Verlag: Springer, Humana, 2005

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      Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scaling transistors into the nanometer regime has resulted in a dramatic increase in MOS leakage (i.e., off-state) current. Threshold voltages of transistors have scaled to maintain performance at reduced power supply voltages. Leakage current has become a

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer US, 2005

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      Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 320 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Scaling transistors into the nanometer regime has resulted in a dramatic increase in MOS leakage (i.e., off-state) current. Threshold voltages of transistors have scaled to maintain performance at reduced power supply voltages. Leakage