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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 138 pages. 8.50x5.51x0.31 inches. In Stock.
Zustand: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 140 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system levelDescribes range of algorithms for addressing thermal-aware test issue, presents comparison of temperature reduction with power-aware techniques and include results on benchmark circuits and systems for different techniquesThis book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips.