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- VerlagCRC Press
- Erscheinungsdatum2020
- ISBN 10 0367607093
- ISBN 13 9780367607098
- EinbandTapa blanda
- Auflage1
- Anzahl der Seiten140
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Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems
Verlag:
CRC Press 2020-06-30, Boca Raton
(2020)
ISBN 10: 0367607093
ISBN 13: 9780367607098
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paperback
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Buchbeschreibung paperback. Zustand: New. Language: ENG. Artikel-Nr. 9780367607098
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Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems
Verlag:
CRC Press Jun 2020
(2020)
ISBN 10: 0367607093
ISBN 13: 9780367607098
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Taschenbuch
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Buchbeschreibung Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level. This book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips. Artikel-Nr. 9780367607098
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