ISBN: 9780128172469 - scanning nonlinear dielectric microscopy: investigation of ferroelectric, dielectric, and semiconductor materials and devices (woodhead publishing series in electronic and optical materials) (3 Ergebnisse)
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Verlag: Elsevier Inc, 2020
Serie: Buch 135 von 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy | Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices | Yasuo Cho | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2020 | Elsevier Inc | EAN 9780128172469 | Verantwortliche Person für die EU: Elsevier B.V., Radarweg 29, 1043 NX AMSTERDAM, NIEDERLANDE, productsafety[at]elsevier[dot]com | Anbieter: preigu. …
Sprache: Englisch
Verlag: Woodhead Publishing, 2020
Serie: Buch 135 von 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Verlag: Elsevier Science, 2020
Serie: Buch 135 von 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Zustand: New. Presents an in-depth look at the SNDM materials characterization technique by its inventor Reviews key materials applications, such as measurement of ferroelectric materials at the nanoscale and measurement of semiconductor materials and d.
