9780128172469 - scanning nonlinear dielectric microscopy: investigation of ferroelectric, dielectric, and semiconductor materials and devices (woodhead publishing series in electronic and optical materials) von cho, yasuo (4 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Woodhead Publishing 2020
Serie: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials, Buch 135 von 203. Buch 135 von 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy | Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices | Yasuo Cho | Taschenbuch | Einband - fest (Hardcover) | Englisch | 2020 | Woodhead Publishing | EAN 9780128172469 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Le…ngericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
Sprache: Englisch
Verlag: Elsevier Science 2020
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Kartoniert / Broschiert. Zustand: New. Presents an in-depth look at the SNDM materials characterization technique by its inventor Reviews key materials applications, such as measurement of ferroelectric materials at the nanoscale and measurement of semiconductor materials and d.
