9780128172469 - scanning nonlinear dielectric microscopy: investigation of ferroelectric, dielectric, and semiconductor materials and devices (woodhead publishing series in electronic and optical materials) von cho, yasuo (4 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Woodhead Publishing, 2020
Serie: Buch 135 von 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
- Softcover
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes KönigreichMajestic Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Neu
EUR 177,90
EUR 7,58 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 3 verfügbar
Zustand: New. pp. 500.
Sprache: Englisch
Verlag: Woodhead Publishing, 2020
Serie: Buch 135 von 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 220,11
EUR 13,97 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Woodhead Publishing, 2020
Serie: Buch 135 von 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
- Softcover
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 164,00
EUR 70,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 5 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy | Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices | Yasuo Cho | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2020 | Woodhead Publishing | EAN 9780128172469 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Le…ngericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
Sprache: Englisch
Verlag: Elsevier Science, 2020
Serie: Buch 135 von 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
- Softcover
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 224,32
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. Presents an in-depth look at the SNDM materials characterization technique by its inventor Reviews key materials applications, such as measurement of ferroelectric materials at the nanoscale and measurement of semiconductor materials and d.
