Wang rongming (7 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Singapore, Springer 2018
Serie: Springer Tracts in Modern Physics, Buch 213 von 227. Buch 213 von 227 - Springer Tracts in Modern Physics
- Hardcover
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Hardcover. VII, 508. 333 illus., 26 illus. in color Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. C-02774 9789811304538 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1150.
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2019
Serie: Springer Tracts in Modern Physics, Buch 213 von 227. Buch 213 von 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Zustand: New. In.
Weitere BilderSprache: Englisch
Verlag: Springer 2019
Serie: Springer Tracts in Modern Physics, Buch 213 von 227. Buch 213 von 227 - Springer Tracts in Modern Physics
- Softcover
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation | Rongming Wang (u. a.) | Taschenbuch | Springer Tracts in Modern Physics | vii | Englisch | 2019 | Springer | EAN 9789811344206 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[a…t]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Springer 2019
Serie: Springer Tracts in Modern Physics, Buch 213 von 227. Buch 213 von 227 - Springer Tracts in Modern Physics
- Softcover
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examining t…heir crucial roles in modern materials research, it offers a unique resource for all researchers who work in ultramicroscopy and/or materials research.The book addresses the growing opportunities in this field and introduces readers to the state of the art in charged-particle microscopy techniques. It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy. Covering these and other essential topics, the book is intended to facilitate the development of microscopy techniques, inspire young researchers, and make a valuable contribution to the field.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Springer 2018
Serie: Springer Tracts in Modern Physics, Buch 213 von 227. Buch 213 von 227 - Springer Tracts in Modern Physics
- Hardcover
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examining their cr…ucial roles in modern materials research, it offers a unique resource for all researchers who work in ultramicroscopy and/or materials research.The book addresses the growing opportunities in this field and introduces readers to the state of the art in charged-particle microscopy techniques. It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy. Covering these and other essential topics, the book is intended to facilitate the development of microscopy techniques, inspire young researchers, and make a valuable contribution to the field.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Verlag 2018
Serie: Springer Tracts in Modern Physics, Buch 213 von 227. Buch 213 von 227 - Springer Tracts in Modern Physics
- Hardcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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Hardcover. Zustand: Brand New. 508 pages. 9.25x6.25x1.75 inches. In Stock.
