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Oxide Semiconductors: Volume 1633 (MRS Proceedings) (English and English Edition)
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 2014
ISBN 10: 1605116106 ISBN 13: 9781605116105
Anbieter: Labyrinth Books, Princeton, NJ, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Very Good.
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Oxide Semiconductors: Volume 1633 (MRS Proceedings)
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 2014
ISBN 10: 1605116106 ISBN 13: 9781605116105
Anbieter: Prior Books Ltd, Cheltenham, Vereinigtes Königreich
Verbandsmitglied: ABA ILAB PBFA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Oxide Semiconductors and Thin Films: Volume 1494 (MRS Proceedings)
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, U.S.A., 2013
ISBN 10: 1605114715 ISBN 13: 9781605114712
Anbieter: RIVERLEE BOOKS, Waltham Cross, HERTS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Oxide Semiconductors: Volume 1633 (MRS Proceedings) (English and English Edition)
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, U.S.A., 2014
ISBN 10: 1605116106 ISBN 13: 9781605116105
Anbieter: RIVERLEE BOOKS, Waltham Cross, HERTS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Oxide Semiconductors: Volume 1633 (MRS Proceedings) (English and English Edition)
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, U.S.A., 2014
ISBN 10: 1605116106 ISBN 13: 9781605116105
Anbieter: RIVERLEE BOOKS, Waltham Cross, HERTS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Oxide Semiconductors: Volume 1633 (MRS Proceedings) (English and English Edition)
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, U.S.A., 2014
ISBN 10: 1605116106 ISBN 13: 9781605116105
Anbieter: RIVERLEE BOOKS, Waltham Cross, HERTS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Oxide Semiconductors and Thin Films: Volume 1494 (MRS Proceedings)
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 2013
ISBN 10: 1605114715 ISBN 13: 9781605114712
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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Oxide Semiconductors and Thin Films
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 2013
ISBN 10: 1605114715 ISBN 13: 9781605114712
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 128,79
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In den WarenkorbZustand: New. Symposium Z, 'Oxide Semiconductors', and Symposium F, 'Oxide Thin Films for Renewable Energy Applications', held at the 2012 MRS Fall Meeting. Editor(s): Schleife, Andre; Allen, Martin; Arnold, Craig B.; Durbin, Steven; Pryds, Nini; Schneider, Christof W.; Veal, Tim D. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 318 pages, 266 b/w illus. 25 tables. BIC Classification: TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 160 x 230 x 28. Weight in Grams: 684. . 2013. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Oxide Semiconductors and Thin Films
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 318 pages. 9.50x6.50x1.00 inches. In Stock.
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Oxide Semiconductors and Thin Films
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2013
ISBN 10: 1605114715 ISBN 13: 9781605114712
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Symposium Z, 'Oxide Semiconductors', and Symposium F, 'Oxide Thin Films for Renewable Energy Applications', were held November 25-30 at the 2012 MRS Fall Meeting in Boston, Massachusetts. Oxide materials are attracting considerable attention both as semiconductors for a wide range of potential device applications but also in energy research spanning from photo- and electro-catalysis, to electrolytes and electrodes used in batteries or fuel cells. This symposium proceedings volume collects recent reports from the meeting aimed at providing a fundamental understanding of bulk oxide materials as well as thin films and nano-structures. The topics covered in this volume are quite broad and include such areas as growth and doping, defects and characterisation, and device applications.
