Völkl r (6 Ergebnisse)
Verlag: Harder - Morcelliana, Roma - Bresci, 1970
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Zustand: BUONO USATO. Studi di Teologia pastorale ITALIANO Brossura filo refe, n. 7 della serie, omogenea dissolvenza virata seppia, mende da conservazione, aloni di polvere e umido, segnano la copertina, ombre di muffe e fioriture ai tagli, cura della direzione dell'Istituto Piemontese di Teologia Pastorale, trad. L. Sinigaglia Lobbia, discrete le condizioni esterne, buone interne. N. pag. 290.…
Verlag: Freiburg im Breisgau, Lambertus-Verlag, 1963., 1963
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In den Warenkorb112 p. Paperback. 22 cm 350 gr.
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Paperback. Zustand: Brand New. 416 pages. 9.30x6.20x0.94 inches. In Stock.
Hydrogen in Metals I: Basic Properties: Vol 1
Alefeld, G. (Editor) / Völkl, J. (Editor) / Alefeld, G. (Contributor) / Cotts, R.M. (Contributor) / Kehr, K.W. (Contributor) / Kronmüller, H. (Contributor) / Peisl, H. (Contributor) / Seeger, A. (Contributor) / Sköld, K. (Contributor)
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Paperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 448 pages. 9.01x5.98x1.01 inches. In Stock.
Verlag: (), 1961
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In den WarenkorbGr.-8vo. 515 S. OKart. Sprache: Deutsch.
Proceedings: Microscopy and Microanalysis 2002
Voelkl, E.; Piston, D.; Gauvin, R.; Lovckley, A.J.; Bailey, G.W.; Mckernan, S.; editors:
Verlag: Cambridge University Press, Cambridge, 2002
- Hardcover
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In den WarenkorbZustand: Minor rubbing. VG. orig.boards Minor rubbing. VG. 28x22cm, lxiii,480 pp, With a DVD in unopened rear-pocket. Series: Microscopy and Microanalysis, Volume 8, Supplement 2, 2002. Contains hundreds of papers concerning: Aberration Correction in TEM and STEM & Its Application to Real-World Materials; Image Simulation & Image Processing Techniques; Electron Holography, Interference Phenomena & Related Techniques; Applications & Developments of Focused Ion Beams; EELS & EFTEM Analysis; Frontiers of X-Ray Spectroscopy; Spectral Imaging; Electron Crystallography & Quantitative Electron Diffraction; Electron Backscatter Diffractioon of Materials: Geology to Nanotechnology; Current Topics in Low Voltage SEM; Electron Backscatter Diffraction in the SEM: Orientation Mapping & Phase Identification for Materials Science; New Developments in Immunolabelling; Microscopy, Microanalysis & Image Analysis in the Pharmaceutical industry; Advances in Microwave Technology; Biominerals; Scanning Probe Microscopy: Electron Cryo-Microscopy of Biological Macromolecules; The Nuts & Bolts of Electron Tomography; Biological Ultrastructure; Plant-Microbe Interactions at the Cellular & Molecular Levels; Microbiology; Cry-electron Microscopy of Large Complexes;Correlative Microscopy; Confocal & Deconvolution for Biologists; Advances in Nanoscale Technology; Modulated Structures in Quasicrystals; Polymer Characterization; Electron Microscopy of Macro-, Micro and Meso-Porous Materials; Magnetic Materials & Super-Conducting Matertials; Phase Transformation in Metals, Alloys & Ceramics; Quantitative X-Ray Analysis in the Microprobe & in the SEM; etc.…
