Touba nur (2 Ergebnisse)
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Zustand: New. Emphasizes VLSI Test principles and Design for Testability architectures, with numerous illustrations/examples. Most up-to-date coverage available, including Fault Tolerance, Low-Power Testing, Defect and Error Tolerance, Network-on-Chip (.
- Hardcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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Hardcover. Zustand: Brand New. illustrated edition. 896 pages. 9.50x7.50x1.50 inches. In Stock.
