Tin c r (7 Ergebnisse)
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2018
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 1719, 2018, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
Bai, Xiao (Editor) / Hancock, Edwin R. (Editor) / Ho, Tin Kam (Editor) / Wilson, Richard C. (Editor) / Biggio, Battista (Editor) / Robles-Kelly, Antonio (Editor)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2018
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Paperback. Zustand: Brand New. 540 pages. 9.25x6.10x1.18 inches. In Stock.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2018
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition | Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 17-19, 2018, Proceedings | Xiao Bai (u. a.) | Taschenbuch | Lecture Notes in Computer Science | xiii | Englisch | 2018 | Springer | EAN 9783319977843 | Verantwortliche Per…son für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Verlag: Springer, 2018
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the proceedings of theJoint IAPR International Workshop onStructural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2018, held in Beijing, China, in August 2018.The 49 papers presented in this volume were carefully revi…ewed and selected from 75 submissions. They were organized in topical sections named: classification and clustering; deep learning and neurla networks; dissimilarity representations and Gaussian processes; semi and fully supervised learning methods; spatio-temporal pattern recognition and shape analysis; structural matching; multimedia analysis and understanding; and graph-theoretic methods.
