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Reliability Characterisation of Electrical and Electronic Systems
Buch 82 von 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical MaterialsSprache: Englisch
Verlag: Elsevier Science & Technology, 2015
ISBN 10: 1782422218 ISBN 13: 9781782422211
Anbieter: Better World Books: West, Reno, NV, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Very Good. Former library copy. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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The Physics of Degradation in Engineered Materials and Devices: Fundamentals and Principles (Materials Properties and Behavior Collection)
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New.
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The Physics of Degradation in Engineered Materials and Devices: Fundamentals and Principles
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 190 pages. 9.00x6.00x0.75 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. The Physics of Degradation in Engineered Materials and Devices | Fundamentals and Principles | Jonathan Swingler | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2014 | Momentum Press | EAN 9781606504673 | Verantwortliche Person für die EU: Mare Nostrum Group B.V., Doelen 72, 4831 GR BREDA, NIEDERLANDE, gpsr[at]mare-nostrum[dot]co[dot]uk | Anbieter: preigu.
