Stein alfred editor (3 Ergebnisse)
Quality Aspects in Spatial Data Mining
Stein, Alfred (Editor)/ Shi, Wenzhong (Editor)/ Bijker, Wietske (Editor)
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Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Pub, 2002
Serie: Buch 2 von 18 - Remote Sensing and Digital Image Processing
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- Hardcover
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Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 404 pages. 9.50x6.50x1.25 inches. In Stock.
