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Advances in X-Ray Analysis, Volume 39
Anbieter: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 8,33
Währung umrechnenEUR 3,87 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Good. *Price HAS BEEN REDUCED by 10% until Monday, Oct. 27 (sale item)* 908 pp., hardcover, ex library, else text and binding clean and tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Advances in X-Ray Analysis
Verlag: Kluwer Academic/Plenum Publishers, 1998
ISBN 10: 0306458039 ISBN 13: 9780306458033
Sprache: Englisch
EUR 6,99
Währung umrechnenEUR 22,50 für den Versand von Frankreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Bon. Ancien livre de bibliothèque. Légères traces d'usure sur la couverture. Tome 39. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Slight signs of wear on the cover. Volume 39. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Internationale AusgabeAdvances In X-Ray Analysis
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 74,18
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Brand New. Soft Cover International Edition. Different ISBN and Cover Image. Priced lower than the standard editions which is usually intended to make them more affordable for students abroad. The core content of the book is generally the same as the standard edition. The country selling restrictions may be printed on the book but is no problem for the self-use. This Item maybe shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Introduction to X-Ray Powder Diffractometry
Verlag: Wiley & Sons, Incorporated, John, 1996
ISBN 10: 0471513393 ISBN 13: 9780471513391
Sprache: Englisch
Anbieter: Better World Books, Mishawaka, IN, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 74,90
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Good. Former library book; may include library markings. Used book that is in clean, average condition without any missing pages.
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Advances in X-Ray Analysis
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 80,72
Währung umrechnenEUR 7,44 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 4 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. pp. 932 68:B&W 7 x 10 in or 254 x 178 mm Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Introduction to X-Ray Powder Diffractometry
Anbieter: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 99,11
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Fair. No Jacket. Readable copy. Pages may have considerable notes/highlighting. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Introduction to X-Ray Powder Diffractometry
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 178,15
Währung umrechnenEUR 13,71 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Introduction to X-Ray Powder Diffractometry
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 266,25
Währung umrechnenEUR 14,31 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 403 pages. 9.50x6.50x1.00 inches. In Stock.
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 39
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 299,63
Währung umrechnenEUR 13,71 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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EUR 336,82
Währung umrechnenEUR 48,99 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Proceedings of the Forty-fourth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis held in Colorado, Springs, Colorado, July 31-August 4, 1995 The 39th Denver Conference on Applications of X-ray Analysis was held July 31-August 4, 1995, at the Sherat.
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 39
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 474,63
Währung umrechnenEUR 69,07 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. Neuware - The 39th Denver Conference on Applications of X-ray Analysis was held July 31-August 4, 1995, at the Sheraton Hotel, Colorado Springs, Colorado. The year 1995 was a special year for the X-ray analysis community, since it represented the 100th anniversary ofthe discovery ofX-rays by Wilhelm Roentgen. In commemoration of this event, the Plenary Session of the conference was entitled 'THE ROENTGEN COMMEMORATIVE SESSION:1895-1995, '100 YEARS OF PROGRESS IN X-RA Y SCIENCE AND APPLICATIONS'. It is interesting to note that while we celebrate 100 years ofthe use ofX-ray techniques in general, and about 80 years ofX-ray diffraction and spectroscopy in particular, the Denver X-ray Conference has been in place for about half ofthat time period! Like the X-ray methods it represents, the Denver Conference on Applications ofX-ray Analysis has grown and matured, has survived the rigors oftime, and today, provides the worlds' best annual forum for the exchange of experiences and developments in the various fields ofX-ray analysis. Imagine, when the Denver Conference started in 1951, there were no personal computer- in fact, there were no computers, period! There was no SEM, no microprobe, there were no Si(Li) detectors, no transistors, no synchrotrons, Hugo Rietveld was a child, and many members who regularly attend Denver Meetings today, weren't even born yet! As I write this foreword, a copy of volurne 1 of Advances in X-ray Analysis lays in front of me on my desk.
