Advances in X-Ray Analysis

John V. Gilfrich, I. Cev Noyan, Ron Jenkins, Ting C. Huang, Robert L. Snyder, Deane K. Smith, Mary Ann Zaitz et Paul K. Predecki

ISBN 10: 0306458039 ISBN 13: 9780306458033
Verlag: Kluwer Academic/Plenum Publishers, 1998
Sprache: Englisch
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