Sheldon tan (42 Ergebnisse)
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Humanizing Disability in Mathematics Education Forging New Paths
Paulo Tan (author), Alexis Padilla (author), Erica N. Mason (author) & James Sheldon (author)
Sprache: Englisch
Verlag: National Council of Teachers of Mathematics, 2020
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Zustand: New. An introduction to key model order reduction techniques in linear circuits, using real-world examples to illustrate advantages and disadvantages. Num Pages: 260 pages, black & white illustrations. BIC Classification: THR; TJF. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 172 x 246 x 16. Weight in Grams: 454.… . 2012. Paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Model order reduction (MOR) techniques reduce the complexity of VLSI designs, paving the way to higher operating speeds and smaller feature sizes. This book presents a systematic introduction to, and treatment of, the key MOR methods employed in gene…ral linear circuits, using real-world examples to illustrate the advantages and disadvantages of each algorithm. Following a review of traditional projection-based techniques, coverage progresses to more advanced MOR methods for VLSI design, including HMOR, passive truncated balanced realization (TBR) methods, efficient inductance modeling via the VPEC model, and structure-preserving MOR techniques. Where possible, numerical methods are approached from the CAD engineer's perspective, avoiding complex mathematics and allowing the reader to take on real design problems and develop more effective tools. With practical examples and over 100 illustrations, this book is suitable for researchers and graduate students of electrical and computer engineering, as well as practitioners working in the VLSI design industry.
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Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu; Kiamehr, Saman
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Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu; Kiamehr, Saman
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Since process variation and chip performance uncertainties have become more pronounced as technologies scale down into the nanometer regime, accurate and efficient modeling or characterization of variations from the device to the architecture level h…ave become imperative for the successful design of VLSI chips.This book provides readers with tools for variation-aware design methodologies and computer-aided design (CAD) of VLSI systems, in the presence of process variations at the nanometer scale. It presents the latest developments for modeling and analysis, with a focus on statistical interconnect modeling, statistical parasitic extractions, statistical full-chip leakage and dynamic power analysis considering spatial correlations, statistical analysis and modeling for large global interconnects and analog/mixed-signal circuits. Provides readers with timely, systematic and comprehensive treatments of statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks, and analog/mixed-signal circuits;Helps chip designers understand the potential and limitations of their design tools, improving their design productivity;Presents analysis of each algorithm with practical applications in the context of real circuit design;Includes numerical examples for the quantitative analysis and evaluation of algorithms presented. Provides readers with timely, systematic and comprehensive treatments of statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks, and analog/mixed-signal circuits;Helps chip designers understand the potential and limitations of their design tools, improving their design productivity;Presents analysis of each algorithm with practical applications in thecontext of real circuit design;Includes numerical examples for the quantitative analysis and evaluation of algorithms presented.
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Zustand: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 336 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Since process variation and chip performance uncertainties have become more pronounced as technologies scale down into the nanometer regime, accurate and efficient modeling or characterization of variations from the device to th…e architecture level have become imperative for the successful design of VLSI chips.This book provides readers with tools for variation-aware design methodologies and computer-aided design (CAD) of VLSI systems, in the presence of process variations at the nanometer scale. It presents the latest developments for modeling and analysis, with a focus on statistical interconnect modeling, statistical parasitic extractions, statistical full-chip leakage and dynamic power analysis considering spatial correlations, statistical analysis and modeling for large global interconnects and analog/mixed-signal circuits. Provides readers with timely, systematic and comprehensive treatments of statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks, and analog/mixed-signal circuits;Helps chip designers understand the potential and limitations of their design tools, improving their design productivity;Presents analysis of each algorithm with practical applications in the context of real circuit design;Includes numerical examples for the quantitative analysis and evaluation of algorithms presented. Provides readers with timely, systematic and comprehensive treatments of statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks, and analog/mixed-signal circuits;Helps chip designers understand the potential and limitations of their design tools, improving their design productivity;Presents analysis of each algorithm with practical applications in thecontext of real circuit design;Includes numerical examples for the quantitative analysis and evaluation of algorithms presented.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems | Modeling, Analysis and Optimization | Sheldon Tan (u. a.) | Taschenbuch | xli | Englisch | 2020 | Springer International Publishing | EAN 9783030261740 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juerg…en[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
