Sheldon tan u a (1 Ergebnisse)
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems | Modeling, Analysis and Optimization | Sheldon Tan (u. a.) | Taschenbuch | xli | Englisch | 2020 | Springer International Publishing | EAN 9783030261740 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juerg…en[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
