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Taschenbuch. Zustand: Neu. Thermal and Power Management of Integrated Circuits | Manoj Sachdev (u. a.) | Taschenbuch | x | Englisch | 2010 | Springer US | EAN 9781441938329 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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EUR 118,64
EUR 48,99 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Covers the latest research that has been carried on in the area of thermal and power management of integrated circuits with emphasis on performance and reliability of ICs at system and circuit levelNo book provides cohesive treatment of the materi.
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Buch 2 von 34: Integrated Circuits and SystemsAnbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In Thermal and Power Management of Integrated Circuits, power and thermal management issues in integrated circuits during normal operating conditions and stress operating conditions are addressed. Thermal management in VLSI circuits is becoming an integral part of the design, test, and manufacturing. Proper thermal management is the key to achieve high performance, quality and reliability. Performance and reliability of integrated circuits are strong functions of the junction temperature. A small increase in junction temperature may result in significant reduction in the device lifetime.This book reviews the significance of the junction temperature as a reliability measure under nominal and burn-in conditions. The latest research in the area of electro-thermal modeling of integrated circuits will also be presented. Recent models and associated CAD tools are covered and various techniques at the circuit and system levels are reviewed. Subsequently, the authors provide an insight into the concept of thermal runaway and how it may best be avoided. A section on low temperature operation of integrated circuits concludes the book.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Buch 18 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 184,45
EUR 7,37 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. pp. 352 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Zustand: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies | Process-Aware SRAM Design and Test | Manoj Sachdev (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9789048178551 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingVerlag: Springer Netherlands, Springer Netherlands Okt 2010, 2010
ISBN 10: 904817855X ISBN 13: 9789048178551
Sprache: Englisch
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 212 pp. Englisch.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingVerlag: Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2010
ISBN 10: 904817855X ISBN 13: 9789048178551
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Buch 18 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 302,98
EUR 14,18 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 2nd edition. 349 pages. 9.10x6.10x0.90 inches. In Stock.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
Buch 18 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 305,62
EUR 14,18 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 2nd edition. 328 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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ESD protection device and circuit design for advanced CMOS technologies
Verlag: S.l., Springer 2008 figures, 2008
Anbieter: Antiquarian Bookshop Klikspaan, Leiden, Niederlande
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Erstausgabe
1st ed. - With index. - Hardcover, as new.
