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EUR 16,93
Währung umrechnenEUR 9,99 für den Versand von Spanien nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Como nuevo. : Este libro presenta ideas recientes de diseño asistido por ordenador (CAD) que abordan las tareas de gestión de memoria, en particular la optimización del consumo de energía en el subsistema de memoria. Explica cómo implementar de manera eficiente soluciones CAD, incluidos métodos teóricos y algoritmos novedosos. El libro cubre varias técnicas de diseño con eficiencia energética, incluidas las técnicas de análisis de dependencia de datos, los métodos de estimación del tamaño de la memoria, las extensiones de los enfoques de mapeo y los enfoques de banca de memoria. Muestra cómo estas técnicas se utilizan para evaluar el almacenamiento de datos de una aplicación, reducir el consumo de energía dinámico y estático, diseñar unidades de generación de direcciones de bajo consumo y mucho más. Proporcionando un marco algebraico para las tareas de gestión de memoria, este libro ilustra cómo optimizar el consumo de energía en los subsistemas de memoria utilizando soluciones CAD. EAN: 9781439814000 Tipo: Libros Categoría: Tecnología Título: Energy-Aware Memory Management for Embedded Multimedia Systems Autor: Florin Balasa| Dhiraj K. Pradhan Editorial: CRC Press Idioma: en Páginas: 360 Formato: tapa dura.
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Practical Design Verification
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 0521859727 ISBN 13: 9780521859721
Sprache: Englisch
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 36,39
Währung umrechnenEUR 7,45 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. pp. xi + 276 Illus.
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EUR 24,99
Währung umrechnenEUR 22,50 für den Versand von Frankreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Très bon. Ancien livre de bibliothèque. Edition 1986. Tome 1. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Very good. Former library book. Edition 1986. Volume 1. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Fault-Tolerant Computer System Design
Anbieter: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 45,07
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In den WarenkorbUnknown. Zustand: Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 2.24.
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Practical Design Verification
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 0521859727 ISBN 13: 9780521859721
Sprache: Englisch
Anbieter: Labyrinth Books, Princeton, NJ, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 62,42
Währung umrechnenEUR 3,84 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Very Good.
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Practical Design Verification
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 0521859727 ISBN 13: 9780521859721
Sprache: Englisch
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 90,42
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In den WarenkorbZustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Eco-friendly Computing and Communication Systems
Verlag: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, 2012
ISBN 10: 3642321119 ISBN 13: 9783642321115
Sprache: Englisch
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 86,69
Währung umrechnenEUR 8,97 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Editor(s): Mathew, Jimson; Patra, Priyadarshan; Pradhan, Dhiraj K.; Kuttyamma, A.J. Series: Communications in Computer and Information Science. Num Pages: 457 pages, 209 black & white illustrations, biography. BIC Classification: UKN; UY. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 155 x 25. Weight in Grams: 700. . 2012. Paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Energy-efficient Fault-tolerant Systems
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 99,56
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In den WarenkorbZustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Energy Aware Memory Management for
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 96,07
Währung umrechnenEUR 7,45 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 3 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. pp. 359.
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Robust SRAM Designs and Analysis
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 99,38
Währung umrechnenEUR 13,74 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Energy-Aware Memory Management for Embedded Multimedia Systems: A Computer-Aided Design Approach (Chapman & Hall/CRC Computer and Information Science Series)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 101,89
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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On-Line Testing for VLSI (Frontiers in Electronic Testing)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 111,19
Währung umrechnenEUR 13,74 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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On Line-Testing for VLSI
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 115,32
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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Energy-Efficient Fault-Tolerant Systems
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 127,54
Währung umrechnenEUR 7,45 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. pp. 352 132 Illus. (51 Col.).
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ENERGY AWARE MEMORY MANAGEMENT FOR EMBEDDED MULTIMEDIA SYSTEMS
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 141,10
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In den WarenkorbZustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Practical Design Verification
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 0521859727 ISBN 13: 9780521859721
Sprache: Englisch
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 141,92
Währung umrechnenEUR 13,74 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Energy-aware Memory Management for Embedded Multimedisystems: Computer-aided Design Approach
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 137,77
Währung umrechnenEUR 28,67 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 359 pages. 9.21x6.14x0.87 inches. In Stock.
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Robust Sram Designs and Analysis
Verlag: Springer-Verlag New York Inc., 2014
ISBN 10: 149390244X ISBN 13: 9781493902446
Sprache: Englisch
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 158,89
Währung umrechnenEUR 8,97 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. This guide to Static Random Access Memory (SRAM) bitcell design and analysis meets the nano-regime challenges for CMOS devices and such emerging devices as Tunnel FETs. Offers popular SRAM bitcell topologies that mitigate variability, plus exhaustive analysis. Num Pages: 180 pages, 5 black & white tables, biography. BIC Classification: TDPB; TJF; TJFC. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 155 x 10. Weight in Grams: 285. . 2014. Paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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On Line-testing for VLSI
Verlag: Springer-Verlag New York Inc., 2010
ISBN 10: 1441950338 ISBN 13: 9781441950338
Sprache: Englisch
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 160,15
Währung umrechnenEUR 8,97 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Editor(s): Nicolaidis, Michael; Zorian, Yervant; Pradhan, Dhiraj K. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 164 pages, biography. BIC Classification: TJFC; UGC. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 254 x 178 x 8. Weight in Grams: 385. . 2010. 1st ed. Softcover of orig. ed. 1998. Paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Integrated Circuit Manufacturability
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 162,73
Währung umrechnenEUR 7,45 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. pp. 332.
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Energy-Efficient Fault-Tolerant Systems (Embedded Systems)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 158,45
Währung umrechnenEUR 13,74 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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On-Line Testing for VLSI
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 109,94
Währung umrechnenEUR 61,61 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-line testing includes the design of concurrent error checking subsystems that can be themselves self-checking, fail-safe systems that continue to function correctly even after an error occurs, reliability monitoring, and self-test and fault-tolerant designs. On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties. On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.
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Energy-Efficient Fault-Tolerant Systems (Embedded Systems)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 164,47
Währung umrechnenEUR 13,74 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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On Line-Testing for VLSI
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 150,85
Währung umrechnenEUR 28,67 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 164 pages. 11.00x8.25x0.37 inches. In Stock.
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On-Line Testing for VLSI
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 114,36
Währung umrechnenEUR 62,63 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-line testing includes the design of concurrent error checking subsystems that can be themselves self-checking, fail-safe systems that continue to function correctly even after an error occurs, reliability monitoring, and self-test and fault-tolerant designs. On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties. On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.
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EUR 136,16
Währung umrechnenEUR 48,99 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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EUR 136,16
Währung umrechnenEUR 48,99 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbGebunden. Zustand: New.
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EUR 83,28
Währung umrechnenEUR 105,00 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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On-line Testing for VLSI
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1998
ISBN 10: 0792381327 ISBN 13: 9780792381327
Sprache: Englisch
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 186,16
Währung umrechnenEUR 8,97 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, and more) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. This book contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing. Editor(s): Nicolaidis, Michael; Zorian, Yervant; Pradhan, Dhiraj K. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 164 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 264 x 187 x 16. Weight in Grams: 520. . 1998. Reprinted from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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EUR 112,33
Währung umrechnenEUR 105,00 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
