Pp biemer (4 Ergebnisse)

- Hardcover
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes KönigreichAnybook.com
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Befriedigend
EUR 20,98
EUR 15,71 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1200grams, ISBN:0471534056. …

- Hardcover
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 125,31
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. Featuring a timely presentation of total survey error (TSE), this edited volume introduces valuable tools for understanding and improving survey data quality in the context of evolving large-scale data setsThis book provides an overview of the TSE framework.

- Hardcover
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 179,48
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Gebunden. Zustand: New. Peruse the history of survey research and the essential concepts for data quality. With an emphasis on total survey error, the authors review principles and concepts in the field and examine important unresolved issues in survey methods.Über de.

- Softcover
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 181,55
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Kartoniert / Broschiert. Zustand: New. Reflecting emerging principles and trends, Measurement Errors in Surveys documents the current state of measurement errors in surveys reports new research findings and promotes interdisciplinary exchanges in numerous approaches in assessing, modeling and .