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Progress in Engineering Technology III.
Buch 140 von 150: Advanced Structured MaterialsSprache: Englisch
Verlag: Cham, Springer International Publishing., 2021
ISBN 10: 3030677494 ISBN 13: 9783030677497
Anbieter: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ ILAB VDA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Erstausgabe
1st ed. 2021. XVII, 369 p. Hardcover. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Advanced Structured Materials, 148. Sprache: Englisch.
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Plasma surface engineering - VOLUME 1.
Sprache: Englisch
Verlag: DGM-Informationsges., Oberursel :, 1989
ISBN 10: 3883551503 ISBN 13: 9783883551500
Anbieter: Gebrauchtbücherlogistik H.J. Lauterbach, Gummersbach, NRW, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Gut. 23,5cm; 667; XVIII.; Hardcover. Sprache: Englisch, Zustand: Gut bis Sehr Gut min. gebräunt (Innen); Besitzerstempel; Einband (Außen) hat geringe Gebrauchsspuren; Außenecken sind gering bestoßen; Schutzumschlag fehlt, oder es gibt keinen; * Die Photos sind original von uns erstellt worden, u.a. erkennbar an einem kleinen weißen Stück Papier im oberen Schnitt. Ab und an verwenden Suchmaschinen Verlagsphotos, bei den Portalen selbst, werden aber nur unsere Originalphotos gezeigt.
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Plasma surface engineering (plasma?oberflächentechnik). (Vol. 2)
Sprache: Englisch
Verlag: DGM Informationsgesellschaft?Verlag, Oberursel :, 1989
ISBN 10: 3883551511 ISBN 13: 9783883551517
Anbieter: Gebrauchtbücherlogistik H.J. Lauterbach, Gummersbach, NRW, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Gut. 23,5cm; 671-1294; XVIII.; Hardcover. Sprache: Englisch, zahlreiche Abbildungen und Tabellen. Zustand: Gut bis Sehr Gut min. gebräunt (Innen); Besitzerstempel; Einband (Außen) hat geringe Gebrauchsspuren; Schutzumschlag fehlt, oder es gibt keinen; * Die Photos sind original von uns erstellt worden, u.a. erkennbar an einem kleinen weißen Stück Papier im oberen Schnitt. Ab und an verwenden Suchmaschinen Verlagsphotos, bei den Portalen selbst, werden aber nur unsere Originalphotos gezeigt.
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Thin Film and Depth Profile Analysis. Topics in current physics; 37.
Anbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. XI, 205 p. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-05569 3540133208 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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DER BAUER IM STAAT
Anbieter: Antiquariat Klittich-Pfankuch GmbH + Co., Braunschweig, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Oechsner, Hans. Der Bauer im Staat. Nationalsozialistische Bauernstaatskunde. Im Auftrage des Reichsbundes Deutscher Diplomlandwirte. 5. neubearbeitete Auflage. Hannover, Schaper, 1936. 8°. Mit einem Porträt und vielen Textabbildungen. 79 Seiten. Original - geheftet. * Name auf Innenumschlag. Umschlag am Rücken und den Rändern verblichen. Rücken oben etwas defekt.
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Thin Film and Depth Profile Analysis (Topics in Current Physics)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 115,49
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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Thin Film and Depth Profile Analysis
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2012
ISBN 10: 3642465013 ISBN 13: 9783642465017
EUR 92,27
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Thin Film and Depth Profile Analysis
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 151,73
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 205 pages. 9.75x7.00x0.50 inches. In Stock.
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Progress In Engineering Technology : Aut
Buch 113 von 150: Advanced Structured MaterialsAnbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New.
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Progress In Engineering Technology : Aut
Buch 113 von 150: Advanced Structured MaterialsAnbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New.
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Thin Film and Depth Profile Analysis
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2012
ISBN 10: 3642465013 ISBN 13: 9783642465017
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The characterization of thin films and solid interfaces as well as the determina tion of concentration profiles in thin solid layers is one of the fields which re quire a rapid transfer of the results from basic research to technological applica tions and developments. It is the merit of the Dr. Wilhelm Heinrich and Else Heraeus-Stiftung to promote such a transfer by organizing high standard seminars mostly held at the 'Physikzentrum' in Bad Honnef near Bonn. The present book has been stimulated by one of these seminars assembling most of the invited speakers as co-authors. The editor appreciates the cooperation of his colleagues contributing to this book. H. Oechsner Kaiserslautern, April 1984 v Contents 1. Introduction. ByH. Oechsner . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1. 1 Requirements for Thin Film and In-Depth Analysis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1. 2 Object and Outl i ne of the Book . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2 4 References 2. The Application of Beam and Diffraction Techniques to Thin Film and Surface Micro-Analysis. By H. W. Werner (With 25 Fi gures) . . . . . . . . . . . . . . . . 5 2. 1 Methods to Determine Chemical Structures in Material Research 5 2. 2 Selected Analytical Features Used to Determine Chemical Structures 9 2. 2. 1 Depth Profi 1 ing . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9 9 a) Destructive Depth Profiling b) Nondestructive Methods for Depth and Thin Film Analysis 15 19 2. 2. 2 Microspot Analysis and Element Imaging 2. 3 Determining Physical Structures in Material Research . . . . . . . . . . . . . . . 27 2. 3. 1 X-Ray Diffraction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27 2. 3. 2 X-Ray Double Crystal Diffraction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28 2. 3.
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Progress In Engineering Technology Iv
Buch 149 von 150: Advanced Structured MaterialsAnbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New.
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Thin-Film and Depth-Profile Analysis
Sprache: Englisch
Verlag: Springer-Verlag GmbH & Co. KG, 1984
ISBN 10: 3540133208 ISBN 13: 9783540133209
Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Plasma Surface Engineering. PSE `92. Proceedings of the 3rd International Conference on Plasma Surface Engineering; Garmisch-Partenkirchen, Germany, October 26 - 29, 1992. (= Reprinted from Surface and Coatings Technology, Vols. 59 and 60).
Verlag: Amsterdam, Elsevier 1993., 1993
Anbieter: Antiquariat Löcker, Wien, Österreich
Verbandsmitglied: GIAQ ILAB VDA VDAO
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
4°. XII, 638 S. m. einigen s/w Abb., OPpbd., ausgeschied. Bibl.-Expl. mit den üblichen Kennzeichnungen. ISSN 0257-8972.
