Mark c ridgway (9 Ergebnisse)
- Weitere Bilder
Sprache: Englisch
Verlag: Heidelberg, Springer, 2015
Serie: Buch 175 von 235 - Springer Series in Optical Sciences
- Hardcover
Anbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, DeutschlandAntiquariat Bookfarm
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Gut
EUR 79,62
EUR 40,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Hardcover. Zustand: Gut. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-05847 9783662443613 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2016
Serie: Buch 175 von 235 - Springer Series in Optical Sciences
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 116,61
EUR 14,00 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2014
Serie: Buch 175 von 235 - Springer Series in Optical Sciences
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 116,61
EUR 14,00 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.
- Weitere Bilder
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2016
Serie: Buch 175 von 235 - Springer Series in Optical Sciences
- Softcover
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 95,25
EUR 70,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 5 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors | Claudia S. Schnohr (u. a.) | Taschenbuch | Springer Series in Optical Sciences | xvi | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9783662522127 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at…]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors
Schnohr, Claudia S. (Edited by)/ Ridgway, Mark C. (Edited by)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2014
Serie: Buch 175 von 235 - Springer Series in Optical Sciences
- Hardcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 157,39
EUR 14,61 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Hardcover. Zustand: Brand New. 2015 edition. 361 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock.
- Weitere Bilder
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2016
Serie: Buch 175 von 235 - Springer Series in Optical Sciences
- Softcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 106,99
EUR 62,88 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - X-ray Absorption Spectroscopy (XAS) is a powerful technique with which to probe the properties of matter, equally applicable to the solid, liquid and gas phases. Semiconductors are arguably our most technologically-relevant group of materials given t…hey form the basis of the electronic and photonic devices that now so widely permeate almost every aspect of our society. The most effective utilisation of these materials today and tomorrow necessitates a detailed knowledge of their structural and vibrational properties. Through a series of comprehensive reviews, this book demonstrates the versatility of XAS for semiconductor materials analysis and presents important research activities in this ever growing field. A short introduction of the technique, aimed primarily at XAS newcomers, is followed by twenty independent chapters dedicated to distinct groups of materials. Topics span dopants in crystalline semiconductors and disorder in amorphous semiconductors to alloys and nanometric material as well as in-situ measurements of the effects of temperature and pressure. Summarizing research in their respective fields, the authors highlight important experimental findings and demonstrate the capabilities and applications of the XAS technique. This book provides a comprehensive review and valuable reference guide for both XAS newcomers and experts involved in semiconductor materials research.
- Weitere Bilder
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2014
Serie: Buch 175 von 235 - Springer Series in Optical Sciences
- Hardcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 106,99
EUR 63,68 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - X-ray Absorption Spectroscopy (XAS) is a powerful technique with which to probe the properties of matter, equally applicable to the solid, liquid and gas phases. Semiconductors are arguably our most technologically-relevant group of materials given they for…m the basis of the electronic and photonic devices that now so widely permeate almost every aspect of our society. The most effective utilisation of these materials today and tomorrow necessitates a detailed knowledge of their structural and vibrational properties. Through a series of comprehensive reviews, this book demonstrates the versatility of XAS for semiconductor materials analysis and presents important research activities in this ever growing field. A short introduction of the technique, aimed primarily at XAS newcomers, is followed by twenty independent chapters dedicated to distinct groups of materials. Topics span dopants in crystalline semiconductors and disorder in amorphous semiconductors to alloys and nanometric material as well as in-situ measurements of the effects of temperature and pressure. Summarizing research in their respective fields, the authors highlight important experimental findings and demonstrate the capabilities and applications of the XAS technique. This book provides a comprehensive review and valuable reference guide for both XAS newcomers and experts involved in semiconductor materials research.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Verlag, 2016
Serie: Buch 175 von 235 - Springer Series in Optical Sciences
- Softcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 155,34
EUR 40,90 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Paperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 380 pages. 9.25x6.10x0.90 inches. In Stock.
- Weitere Bilder
- Signiert
Anbieter: Main Street Fine Books & Mss, ABAA, Galena, IL, USAMain Street Fine Books & Mss, ABAA
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht
EUR 178,60
EUR 5,20 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbThirty-second president of the United States. Signed FDC, 6½" X 3½", n.p., n.d. Fine. First day cover bearing a pair of two-cent FDR stamps at upper right depicting the "Little White House" (Warm Springs, Georgia), cancelled there on 24 August 1945 and with "First Day of Issue" so stamped. Handsome engraved pictorial cachet at l…eft. Signed boldly in ink by six famed American military officers: Mark W. Clark, Ira C. Eaker, Andrew J. Goodpaster, Matthew B. Ridgway, James A. Van Fleet and Albert C. Wedemeyer. A unique assemblage.
