Manoj sachdev u a (1 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 21 von 40. Buch 21 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 149,00
EUR 70,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 5 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies | Process-Aware SRAM Design and Test | Manoj Sachdev (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9789048178551 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juer…gen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
