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Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling
Buch 50 von 72: Springer Series in Advanced MicroelectronicsAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling
Buch 50 von 72: Springer Series in Advanced MicroelectronicsAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability: Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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EUR 237,73
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