Linghong (4 Ergebnisse)
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Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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Zustand: New. In.
Verlag: Hangzhou Grand Theatre, 2005
- Hardcover
Anbieter: Minotavros Books, ABAC ILAB, Whitby, ON, KanadaMinotavros Books, ABAC ILAB
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Near Fine. Zustand des Schutzumschlags: Near Fine. 8.5" x 9.5" 118 p.p. Light blue cloth boards with titling in blind to front board, spine unlettered. Corners bumped, spine tail slightly worn. Dust jacket lightly bumped to extremities, a few scuffs, else fine. Ink gift inscription to title page. Colour photo…graphy throughout. A collection of photographs from the first season of the Hangzhou Grand Theatre (completed in 2004), built by Canadian architect Carlos Ott and Petroff Partnership Architects in Qianjiang, China. Zeng, Linghong [photography] (illustrator).
Sprache: Englisch
Verlag: VDM Verlag Dr. Müller|VDM Verlag Dr. Müller e.K., 2008
- Softcover
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
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Kartoniert / Broschiert. Zustand: New. Electromigration is a microscopic phenomenoninvolving electric field-induced diffusion, which isvery relevant to damage in interconnections. Acommon method for monitoring interconnectiondegradation is through electrical resistancemeasurements, which require.
Sprache: Englisch
Verlag: VDM Verlag Dr. Müller, VDM Verlag Dr. Müller E.K., 2008
- Softcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - Electromigration is a microscopic phenomenoninvolving electric field-induced diffusion, which isvery relevant to damage in interconnections. Acommon method for monitoring interconnectiondegradation is through electrical resistancemeasurements, which requires direct electricalcontact. It is de…sirable to develop non-contactmethods to monitor electromigration damageformation. In this thesis, we propose a novelOptical Microscopy Imaging Method (OMIM), and weprovide a theoretical description and experimentalresults. OMIM not only provides a new method forstudying electromigration, but also provides auseful method for studying other micro-devices andmaterials in a non- contact mode.
