Verwandte Artikel zu Electromigration: Studied with the Optical Microscopy...
Inhaltsangabe
Electromigration is a microscopic phenomenoninvolving electric field-induced diffusion, which isvery relevant to damage in interconnections. Acommon method for monitoring interconnectiondegradation is through electrical resistancemeasurements, which requires direct electricalcontact. It is desirable to develop non-contactmethods to monitor electromigration damageformation. In this thesis, we propose a novelOptical Microscopy Imaging Method (OMIM), and weprovide a theoretical description and experimentalresults. OMIM not only provides a new method forstudying electromigration, but also provides auseful method for studying other micro-devices andmaterials in a non- contact mode.
Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
Suchergebnisse für Electromigration: Studied with the Optical Microscopy...
Beispielbild für diese ISBN
Electromigration: Studied with the Optical Microscopy Imaging Method
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. In. Artikel-Nr. ria9783639088137_new
Neu kaufen
EUR 47,71
EUR 13,98 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USA
Versand von Vereinigtes Königreich nach USA
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Foto des Verkäufers
Electromigration
Verlag:
VDM Verlag Dr. Müller|VDM Verlag Dr. Müller e.K., 2008
ISBN 10: 3639088131
ISBN 13: 9783639088137
Neu
Kartoniert / Broschiert
Anbieter: moluna, Greven, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Kartoniert / Broschiert. Zustand: New. Electromigration is a microscopic phenomenoninvolving electric field-induced diffusion, which isvery relevant to damage in interconnections. Acommon method for monitoring interconnectiondegradation is through electrical resistancemeasurements, which require. Artikel-Nr. 4956289
Neu kaufen
EUR 51,77
EUR 48,99 Versand
Versand von Deutschland nach USA
Versand von Deutschland nach USA
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Foto des Verkäufers
Electromigration : Studied with the Optical Microscopy Imaging Method
Verlag:
VDM Verlag Dr. Müller, VDM Verlag Dr. Müller E.K., 2008
ISBN 10: 3639088131
ISBN 13: 9783639088137
Neu
Taschenbuch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - Electromigration is a microscopic phenomenoninvolving electric field-induced diffusion, which isvery relevant to damage in interconnections. Acommon method for monitoring interconnectiondegradation is through electrical resistancemeasurements, which requires direct electricalcontact. It is desirable to develop non-contactmethods to monitor electromigration damageformation. In this thesis, we propose a novelOptical Microscopy Imaging Method (OMIM), and weprovide a theoretical description and experimentalresults. OMIM not only provides a new method forstudying electromigration, but also provides auseful method for studying other micro-devices andmaterials in a non- contact mode. Artikel-Nr. 9783639088137
Neu kaufen
EUR 62,58
EUR 60,66 Versand
Versand von Deutschland nach USA
Versand von Deutschland nach USA
Anzahl: 2 verfügbar