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Reliability of high-k / metal gate field-effect transistors considering circuit operational constraints
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Reliability of high-k / metal gate field-effect transistors considering circuit operational constraints | Steve Kupke | Taschenbuch | 124 S. | Englisch | 2016 | Books on Demand GmbH | EAN 9783741208690 | Verantwortliche Person für die EU: BoD - Books on Demand, In de Tarpen 42, 22848 Norderstedt, info[at]bod[dot]de | Anbieter: preigu.
