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Quantitative TEM Study of Nitride Semiconductors: Quantitative transmission electron microscopy study of III-nitride semiconductor nanostructures (Omn.Univ.Europ.)
Sprache: Englisch
Verlag: Editions universitaires europeennes, 2010
ISBN 10: 6131545006 ISBN 13: 9786131545009
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Quantitative TEM Study of Nitride Semiconductors | Quantitative transmission electron microscopy study of III-nitride semiconductor nanostructures
Sprache: Englisch
Verlag: Éditions universitaires européennes, 2010
ISBN 10: 6131545006 ISBN 13: 9786131545009
Taschenbuch. Zustand: Neu. Quantitative TEM Study of Nitride Semiconductors | Quantitative transmission electron microscopy study of III-nitride semiconductor nanostructures | Maxim Korytov | Taschenbuch | 196 S. | Englisch | 2010 | Éditions universitaires européennes | EAN 9786131545009 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
