EUR 44,60
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In den WarenkorbZustand: New. pp. 388 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
hardcover. Zustand: Gut. 445 Seiten; 9780024215758.3 Gewicht in Gramm: 1.
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
EUR 71,18
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In den WarenkorbZustand: New.
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 1995
ISBN 10: 1558992936 ISBN 13: 9781558992931
Anbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
284 p. Ex-Library Book in good condition. 9781558992931 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 590.
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521516137 ISBN 13: 9780521516136
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
EUR 78,15
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Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 142 pages. 9.68x6.87x9.61 inches. In Stock.
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
EUR 114,59
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In den WarenkorbZustand: New.
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521516137 ISBN 13: 9780521516136
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
EUR 113,27
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In den WarenkorbZustand: New. Based on a graduate course at UCLA, this book describes reliability and failure of thin films. Num Pages: 412 pages, 186 b/w illus. 23 tables. BIC Classification: TGM; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 23. Weight in Grams: 970. . 2010. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
EUR 116,90
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 432 pages. 9.84x6.77x0.94 inches. In Stock.
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Jenny Stanford Publishing, 2013
ISBN 10: 9814303461 ISBN 13: 9789814303460
Anbieter: PBShop.store US, Wood Dale, IL, USA
HRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
Sprache: Englisch
Verlag: Pan Stanford Publishing Pte Ltd, 2013
ISBN 10: 9814303461 ISBN 13: 9789814303460
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
hardcover. Zustand: Gut. 466 Seiten; 9789814303460.3 Gewicht in Gramm: 1.
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
Sprache: Englisch
Verlag: Jenny Stanford Publishing, 2013
ISBN 10: 9814303461 ISBN 13: 9789814303460
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: New. pp. 324.
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 184 pages. 9.69x6.88x0.38 inches. In Stock.
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 484 pages. 9.50x6.50x1.00 inches. In Stock.
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521516137 ISBN 13: 9780521516136
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Thin films are widely used in the electronic device industry. As the trend for miniaturization of electronic devices moves into the nanoscale domain, the reliability of thin films becomes an increasing concern. Building on the author's previous book, Electronic Thin Film Science by Tu, Mayer and Feldman, and based on a graduate course at UCLA given by the author, this new book focuses on reliability science and the processing of thin films. Early chapters address fundamental topics in thin film processes and reliability, including deposition, surface energy and atomic diffusion, before moving onto systematically explain irreversible processes in interconnect and packaging technologies. Describing electromigration, thermomigration and stress migration, with a closing chapter dedicated to failure analysis, the reader will come away with a complete theoretical and practical understanding of electronic thin film reliability. Kept mathematically simple, with real-world examples, this book is ideal for graduate students, researchers and practitioners.
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 296 pages. 9.50x6.50x1.00 inches. In Stock.
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Sprache: Englisch
Verlag: Jenny Stanford Publishing, 2013
ISBN 10: 9814303461 ISBN 13: 9789814303460
Anbieter: moluna, Greven, Deutschland
Gebunden. Zustand: New. Yu Huang is a faculty member in the Department of Materials Sciences and Engineering at the University of California, Los Angeles (UCLA), USA. She received her PhD in physical chemistry from Harvard University, USA. Her research focuses .
Zustand: New. As the ability to produce nanomaterials advances, it becomes more important to understand how the energy of the atoms in these materials is affected by their reduced dimensions. Num Pages: 312 pages, illustrations (black and white). BIC Classification: PN; TBN; TDCB; TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 241 x 160 x 24. Weight in Grams: 634. . 2014. 2nd Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
EUR 202,10
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Anbieter: Buchpark, Trebbin, Deutschland
Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 370 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | The European Union's directive banning the use of lead-based (Pb) solders in electronic consumer products has created an urgent need for research on solder joint behavior under various driving forces in electronic manufacturing, and for development of lead-free solders. This book provides a comprehensive examination of advanced materials reliability issues related to copper-tin reaction and electromigration in solder joints, and presents methods for preventing common reliablity problems.
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
EUR 216,56
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 500 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock.