Kay nicholas d (8 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Harper And Brothers, New York, 1939
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In den WarenkorbSoft cover. Zustand: Very Good. First Edition. Single Issue In Original Wrappers. Light Wear, Tears At Edges At Top And Bottom Of Spine, Bright, Foxing On Edges Of Page Block. Lundberg Continues His Discussion Of The Legal Profession.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2017
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, 2018
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, 2017
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2017
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Hardcover. Zustand: Brand New. 146 pages. 9.25x6.10x0.63 inches. In Stock.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2017
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, Springer International Publishing, 2018
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This thesis introduces a unique approach of applying atomic force microscopy to study the nanoelectromechanical properties of 2D materials, providing high-resolution computer-generated imagery (CGI) and diagrams to aid readers' understanding and visu…alization. The isolation of graphene and, shortly after, a host of other 2D materials has attracted a great deal of interest in the scientific community for both their range of extremely desirable and their record-breaking properties. Amongst these properties are some of the highest elastic moduli and tensile strengths ever observed in nature. The work, which was undertaken at Lancaster University's Physics department in conjunction with the University of Manchester and the National Physical Laboratory, offers a new approach to understanding the nanomechanical and nanoelectromechanical properties of 2D materials by utilising the nanoscale and nanosecond resolution of ultrasonic force and heterodyne force microscopy (UFM and HFM) - both contact mode atomic force microscopy (AFM) techniques. Using this approach and developing several other new techniques the authors succeeded in probing samples' subsurface and mechanical properties, which would otherwise remain hidden. Lastly, by using a new technique, coined electrostatic heterodyne force microscopy (E-HFM), the authors were able to observe nanoscale electromechanical vibrations with a nanometre and nanosecond resolution, in addition to probing the local electrostatic environment of devices fabricated from 2D materials.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Berlin, Springer, 2017
- Hardcover
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This thesis introduces a unique approach of applying atomic force microscopy to study the nanoelectromechanical properties of 2D materials, providing high-resolution computer-generated imagery (CGI) and diagrams to aid readers' understanding and visualizati…on. The isolation of graphene and, shortly after, a host of other 2D materials has attracted a great deal of interest in the scientific community for both their range of extremely desirable and their record-breaking properties. Amongst these properties are some of the highest elastic moduli and tensile strengths ever observed in nature. The work, which was undertaken at Lancaster University's Physics department in conjunction with the University of Manchester and the National Physical Laboratory, offers a new approach to understanding the nanomechanical and nanoelectromechanical properties of 2D materials by utilising the nanoscale and nanosecond resolution of ultrasonic force and heterodyne force microscopy (UFM and HFM) - both contact mode atomic force microscopy (AFM) techniques. Using this approach and developing several other new techniques the authors succeeded in probing samples' subsurface and mechanical properties, which would otherwise remain hidden. Lastly, by using a new technique, coined electrostatic heterodyne force microscopy (E-HFM), the authors were able to observe nanoscale electromechanical vibrations with a nanometre and nanosecond resolution, in addition to probing the local electrostatic environment of devices fabricated from 2D materials.
