Joo y c edt (1 Ergebnisse)

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Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-k Dielectrics
Oehrlein, G. S. (EDT); Maex, K. (EDT); Joo, Y. C. (EDT); Ogawa, S. (EDT); Wetzel, J. T. (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2014
110741315X / 9781107413153
- Softcover
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes KönigreichGreatBookPricesUK
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