Jaynarayan tudu (5 Ergebnisse)
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Verlag: Springer 2022
Serie: Communications in Computer and Information Science, Buch 495 von 578. Buch 495 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Taschenbuch. Zustand: Neu. VLSI Design and Test | 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers | Ambika Prasad Shah (u. a.) | Taschenbuch | xviii | Englisch | 2022 | Springer | EAN 9783031215131 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121… Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
VLSI Design and Test: 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 1719, 2022, Revised Selected Papers: 1687 (Communications in Computer and Information Science, 1687)
Shah, Ambika Prasad (Editor) / Dasgupta, Sudeb (Editor) / Darji, Anand (Editor) / Tudu, Jaynarayan (Editor)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2022
Serie: Communications in Computer and Information Science, Buch 495 von 578. Buch 495 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the proceedings of the 26th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2022, which took place in Jammu, India, in July 2022.The 32 regular papers and 16 short papers presented in this volume were carefully reviewed an…d selected from 220 submissions. They were organized in topical sections as follows: Devices and Technology; Sensors; Analog/Mixed Signal; Digital Design; Emerging Technologies and Memory; System Design.
