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Scubakids Save Our Seas!
Anbieter: WeBuyBooks, Rossendale, LANCS, Vereinigtes Königreich
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Scubakids Save Our Seas!
Anbieter: WorldofBooks, Goring-By-Sea, WS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Very Good. Jay, Zoë (illustrator). The book has been read, but is in excellent condition. Pages are intact and not marred by notes or highlighting. The spine remains undamaged.
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Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science (Second Edition)
Anbieter: PBShop.store US, Wood Dale, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
PAP. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science (Second Edition)
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Anbieter: PBShop.store US, Wood Dale, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
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An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Anbieter: PBShop.store US, Wood Dale, IL, USA
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An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
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EUR 42,21
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An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science (Iop Concise Physics)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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An Introduction to Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 49,49
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 66 pages. 10.00x7.00x0.25 inches. In Stock.
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Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science (Second Edition)
Sprache: Englisch
Verlag: Institute of Physics Publishing, 2025
ISBN 10: 0750333294 ISBN 13: 9780750333290
Anbieter: PBShop.store US, Wood Dale, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
HRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science (Second Edition)
Sprache: Englisch
Verlag: Institute of Physics Publishing, 2025
ISBN 10: 0750333294 ISBN 13: 9780750333290
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EUR 81,25
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In den WarenkorbHRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science (Second Edition)
Sprache: Englisch
Verlag: IOP Publishing Ltd Aug 2025, 2025
ISBN 10: 0750333324 ISBN 13: 9780750333320
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - In this edition of Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) and its Application to Material Science the authors expand further on the principles and methods presented in the first edition. A more detailed overview of the principles of SIMS is given, and of how the development of dual-beam instruments has blurred the traditional fields of dynamic and static SIMS to enable greater analytical possibilities. In particular the development and application of cluster ion beams, and how this has opened up a new area of materials analysis. Practical information on how to obtain high quality SIMS data, and what parameters should be used to define this are also considered.
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Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 97,35
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science (Second Edition)
Sprache: Englisch
Verlag: Institute of Physics Publishing, 2022
ISBN 10: 0750333294 ISBN 13: 9780750333290
EUR 86,45
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An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science (Iop Concise Physics)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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EUR 140,87
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An Introduction to Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry Tof-sims and Its Application to Materials Science
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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EUR 143,85
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 66 pages. 9.25x7.00x10.00 inches. In Stock.
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Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science (Second Edition)
Sprache: Englisch
Verlag: IOP Publishing Ltd Aug 2025, 2025
ISBN 10: 0750333294 ISBN 13: 9780750333290
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - In this edition of Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) and its Application to Material Science the authors expand further on the principles and methods presented in the first edition. A more detailed overview of the principles of SIMS is given, and of how the development of dual-beam instruments has blurred the traditional fields of dynamic and static SIMS to enable greater analytical possibilities. In particular the development and application of cluster ion beams, and how this has opened up a new area of materials analysis. Practical information on how to obtain high quality SIMS data, and what parameters should be used to define this are also considered.
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EUR 154,64
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An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Sprache: Englisch
Verlag: Morgan & Claypool Publishers LLC-Iop Okt 2015, 2015
ISBN 10: 1643279106 ISBN 13: 9781643279107
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - This book highlights the application of Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) for high-resolution surface analysis and characterization of materials. While providing a brief overview of the principles of SIMS, it also provides examples of how dual-beam ToF-SIMS is used to investigate a range of materials systems and properties. Over the years, SIMS instrumentation has dramatically changed since the earliest secondary ion mass spectrometers were first developed. Instruments were once dedicated to either the depth profiling of materials using high-ion-beam currents to analyse near surface to bulk regions of materials (dynamic SIMS), or time-of-flight instruments that produced complex mass spectra of the very outer-most surface of samples, using very low-beam currents (static SIMS). Now, with the development of dual-beam instruments these two very distinct fields now overlap.
