Durham brian (8 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Galaxy Press, 2013
Serie: Buch 29 von 42 - L. Ron Hubbard Presents Writers of the Future
- Softcover
Anbieter: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, USAWorld of Books (was SecondSale)
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Gut
EUR 4,43
Versand gratisVersand innerhalb von USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: Very Good. Item in very good condition! Textbooks may not include supplemental items i.e. CDs, access codes etc. Eno, Jon; Meehan, Joshua; Menacho, Luis; Xu, Olivia; Reneau, Daniel; Albano, Jackie; Katayanagi, Aldo; Chen, Sida; Slater, Karsen; Eads, James J.; Durham, Lucas; England, Tiffany (illustrator).
Sprache: Englisch
Verlag: Galaxy Press, 2013
Serie: Buch 29 von 42 - L. Ron Hubbard Presents Writers of the Future
- Softcover
Anbieter: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, USAWorld of Books (was SecondSale)
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Ausreichend
EUR 4,43
Versand gratisVersand innerhalb von USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: Acceptable. Item in acceptable condition including possible liquid damage. As well, answers may be filled in. Lastly, may be missing components, e.g. missing DVDs, CDs, Access Code, etc. Eno, Jon; Meehan, Joshua; Menacho, Luis; Xu, Olivia; Reneau, Daniel; Albano, Jackie; Katayanagi, Aldo; Chen, Sida; Slater, Karsen; Ead…s, James J.; Durham, Lucas; England, Tiffany (illustrator).
L. Ron Hubbard Presents Writers of the Future Volume 29
Trent, Brian; Sottong, Stephen; Gower, Tina; Reynaga, Christopher; Oxide, Chrome; Cline, Eric; Wilson, Alex; Julian, Kodiak; Guttridge, Marilyn; Alering, Alisa; Peavey, Shannon; Stewart, Andrea; Lostetter, Marina; Hubbard, L Ron; Farland, Dave
Sprache: Englisch
Verlag: Galaxy Press (edition Illustrated), 2013
Serie: Buch 29 von 42 - L. Ron Hubbard Presents Writers of the Future
- Softcover
Anbieter: BooksRun, Philadelphia, PA, USABooksRun
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Gut
EUR 4,44
Versand gratisVersand innerhalb von USAAnzahl: 1 verfügbar
Mass Market Paperback. Zustand: Very Good. Illustrated. It's a well-cared-for item that has seen limited use. The item may show minor signs of wear. All the text is legible, with all pages included. It may have slight markings and/or highlighting. Eno, Jon; Meehan, Joshua; Menacho, Luis; Xu, Olivia; Reneau, Daniel; Albano, Jacki…e; Katayanagi, Aldo; Chen, Sida; Slater, Karsen; Eads, James J.; Durham, Lucas; England, Tiffany (illustrator).
Sprache: Englisch
Verlag: GALAXY PR LLC, 2013
Serie: Buch 29 von 42 - L. Ron Hubbard Presents Writers of the Future
- Softcover
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 16,92
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Kartoniert / Broschiert. Zustand: New. Eno, Jon; Meehan, Joshua; Menacho, Luis; Xu, Olivia; Reneau, Daniel; Albano, Jackie; Katayanagi, Aldo; Chen, Sida; Slater, Karsen; Eads, James J.; Durham, Lucas; England, Tiffany (illustrator).
Verlag: Oxford Archaeological Unit, 1984
- Softcover
Anbieter: April House Books, Chipping Norton, Vereinigtes KönigreichApril House Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Gut
EUR 13,85
EUR 33,87 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Soft cover. Zustand: Very Good. A very good unmarked copy.
- Softcover
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 54,42
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: New. Über den Autorby T G Allen with J HillerKlappentextrnrnThis report documents the discovery, excavation and preservation of a Norman moated stone manor house found in 1984 at the Mount House, Witney. The trial e.
X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing
D. Keith Bowen (Bede Plc, Durham, UK)|Brian K. Tanner (University of Durham, UK)
- Hardcover
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 272,21
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: New. D. Keith Bowen, Brian K. TannerThe scales involved in modern semiconductor manufacturing and microelectronics continue to plunge downward. Effective and accurate characterization of materials with thicknesses below a few nanometers can be achieved us.
- Hardcover
Anbieter: BOOKIT!, Genève, SchweizBOOKIT!
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 3 SternenZustand: Gebraucht - Wie neu
EUR 692,10
EUR 53,50 VersandVersand von Schweiz nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: Used: Like New. LIVRE A L?ETAT DE NEUF. EXPEDIE SOUS 3 JOURS OUVRES. NUMERO DE SUIVI COMMUNIQUE AVANT ENVOI, EMBALLAGE RENFORCE. EAN:9781614701224.
