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Nutraceuticals in Livestock and Poultry
Sprache: Englisch
Verlag: MPNPA New India Publishing Agency NIPA, 2015
ISBN 10: 8119235940 ISBN 13: 9788119235940
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 36,55
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 116 pages. 0.47x9.02x5.98 inches. In Stock.
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Nutraceuticals in Livestock and Poultry
Sprache: Englisch
Verlag: New India Publishing Agency, 2023
ISBN 10: 8119235940 ISBN 13: 9788119235940
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. 2015. paperback. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Nutraceuticals in Livestock and Poultry
Sprache: Englisch
Verlag: MPNPA New India Publishing Agency NIPA, 2015
ISBN 10: 9383305673 ISBN 13: 9789383305674
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 77,07
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 116 pages. 6.00x0.31x9.00 inches. In Stock.
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Einstein Relation In Compound Semiconductors And Their Nanostructures
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Nutraceuticals in Livestock and Poultry
Sprache: Englisch
Verlag: New India Publishing Agency, 2015
ISBN 10: 9383305673 ISBN 13: 9789383305674
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. 2015. hardcover. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Photoemission from Optoelectronic Materials and their Nanostructures
Buch 18 von 60: Nanostructure Science and TechnologyAnbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: New. pp. 352 209 Illus.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 89)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Einstein Relation in Compound Semiconductors and Their Nanostructures
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 124,92
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In den WarenkorbZustand: New. pp. 480 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1989
ISBN 10: 079239058X ISBN 13: 9780792390589
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 160 pages, biography. BIC Classification: T; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 940. . 1989. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Einstein Relation in Compound Semiconductors and Their Nanostructures (Springer Series in Materials Science, 116)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 164,21
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Photoemission from Optoelectronic Materials and their Nanostructures (Nanostructure Science and Technology)
Buch 18 von 60: Nanostructure Science and TechnologyAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Test generation is one of the most difficult tasks facing the designer of complex VLSI-based digital systems. Much of this difficulty is attributable to the almost universal use in testing of low, gate-level circuit and fault models that predate integrated .
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - Test generation is one of the most difficult tasks facing the designer of complex VLSI-based digital systems. Much of this difficulty is attributable to the almost universal use in testing of low, gate-level circuit and fault models that predate integrated circuit technology. It is long been recognized that the testing prob lem can be alleviated by the use of higher-level methods in which multigate modules or cells are the primitive components in test generation; however, the development of such methods has proceeded very slowly. To be acceptable, high-level approaches should be applicable to most types of digital circuits, and should provide fault coverage comparable to that of traditional, low-level methods. The fault coverage problem has, perhaps, been the most intractable, due to continued reliance in the testing industry on the single stuck-line (SSL) fault model, which is tightly bound to the gate level of abstraction. This monograph presents a novel approach to solving the foregoing problem. It is based on the systematic use of multibit vectors rather than single bits to represent logic signals, including fault signals. A circuit is viewed as a collection of high-level components such as adders, multiplexers, and registers, interconnected by n-bit buses. To match this high-level circuit model, we introduce a high-level bus fault that, in effect, replaces a large number of SSL faults and allows them to be tested in parallel. However, by reducing the bus size from n to one, we can obtain the traditional gate-level circuit and models.
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Photoemission from Optoelectronic Materials and their Nanostructures (Nanostructure Science and Technology)
Buch 18 von 60: Nanostructure Science and TechnologyAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 225,20
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Einstein Relation in Compound Semiconductors and Their Nanostructures (Springer Series in Materials Science, 116)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Einstein Relation in Compound Semiconductors and Their Nanostructures
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 2009 edition. 458 pages. 9.00x6.00x0.75 inches. In Stock.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Anbieter: Celler Versandantiquariat, Eicklingen, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Kluwer, Boston, 1990. X, 159 pages with some graphics, hard cover----former library book in good condition- 460 Gramm.
