Deane john r (35 Ergebnisse)
Capper's Farm Book
Carter, Deane G.; anderson, Kling L.; Herrick, John B.; Hill, R.G.; Chapman, C.J.; Lee, Oliver C.
Verlag: Capper Publications, Topeka, KS, 1952
- Hardcover
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Good. No Dust Jacket. 112 pages. Some wear to the edges, pages yellowed; a good solid book. Contents are Farm Home Improvement and Remodeling; Grassland Farming Through Better use of Pastures; Controlling Livestock Disease Through New Methods of Diagnosis, Treatment and Prevention; Erosion the Cancer of the L…and; The Story of Fertilizers; Weeds; A Treasure House of Hard to Find Facts. Illustrator: . Quantity Available: 1. Category: Farming; Inventory No: 191307.
Verlag: Wien Neue Welt, 1946
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Sprache: Deutsch
Verlag: Neue Welt Verlag; ohne Jahresangabe;.
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- Hardcover
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Verlag: Verlag Neue Welt
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Verlag: Viking Press
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Sprache: Englisch
Verlag: University Press of Kentucky, 2018
Serie: American Warriors, Buch 21 von 36. Buch 21 von 36 - American Warriors
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Verlag: The Viking Press, 1947
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Very Good. Zustand des Schutzumschlags: Good. 1st Edition. *Veteran-Owned, Family-Run, Small Book Store in the Pacific Northwest* FAST SHIPPING!! Clean text, no markings, tight binding. 344 pp.
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Sprache: Deutsch
Verlag: Verlag Neue Welt, Wien, 1946
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Paperback. Zustand: Good. Reissue Edition. Classics In Russian Studies; 344 pages; Ex-Library copy with usual identifiers. Cocked spine, very slightly. Rubbing (shelf wear) to covers and page exteriors. No markings on text pages or major defects. ; - Your satisfaction is our priority. We offer free returns and respond promptly t…o all inquiries. Your item will be carefully cushioned in bubble wrap and securely boxed. All orders ship on the same or next business day. Buy with confidence.
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Verlag: UNIV PR OF KENTUCKY, 2018
Serie: American Warriors, Buch 21 von 36. Buch 21 von 36 - American Warriors
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Gebunden. Zustand: New. In Lessons in Leadership, this exceptional soldier not only discusses working with some of the army s most influential and colorful leaders - including James M. Gavin, William E. DePuy, William Westmoreland, and Creighton Abrams Jr.Über den Aut.
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Hardcover. Zustand: Good. No Jacket. Missing dust jacket; Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B | C. S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | iv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461365327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Ins…trumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The 41st Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis was held August 3-7, 1992, at the Sheraton Colorado Springs Hotel, Colorado Springs, Colorado. The Conference is recognized to be a major event in the x-ray analysis field, bringing togethe…r scientists and engineers from around the world to discuss the state of the art in x-ray applications as well as indications for further developments. In recent years, one of the most exciting and important developments in the x-ray field has been the applications of grazing-incidence x-rays for surface and thin-film analysis. To introduce the conference attendees to these 'leading-edge' developments, the topic for the Plenary Session was 'Grazing-Incidence X Ray Characterization of Materials. ' The Conference had the privilege of inviting leading experts in the field of x-ray thin film analysis to deliver lectures at the Plenary Session. Dr. D. K. Bowen, University of Warwick, U. K. , opened the session with a lecture on 'Grazing Incidence X-Ray Scattering from Thin Films. ' He reviewed and compared grazing incidence diffraction, fluorescence and reflectivity techniques. Results of experimental and theoretical analysis were also discussed. Dr. B. Lenge1er, Forchungszentrum Ju1ich, Germany, followed with a lecture on 'Grazing Incidence Diffuse X-Ray Scattering from Thin Films. ' He concentrated on the use of newly developed 'off-specular' reflectivity techniques for the determination of vertical roughness, lateral correlation length and contour exponent on surfaces.
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Gebunden. Zustand: New. Mathematical Techniques in XRay Spectrometry: Research in the Quantitative Analysis of Individual Particles by XRay Fluorescence Spectrometry (M. Lankosz et al.). Analysis of Light Elements by XRay Spectrometry: XRFA of Carbon in Steels (F. Weber et al.). X.
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Gebunden. Zustand: New. Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrument.
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Mathematical Techniques in XRay Spectrometry: Research in the Quantitative Analysis of Individual Particles by XRay Fluorescence Spectrometry (M. Lankosz et al.). Analysis of Light Elements by XRay Spectrometry: XRFA of Carbon in Steels (F. Weber et al.). X…RS Techniques and Instrumentation: Diffraction Peaks in XRay Spectroscopy (R.G.Tissot, R.P. Goehner). OnLine, Industrial, and Other Applications of XRS: Application of XRF in the Aluminum Industry (F.R. Feret). XRay Characterization of Thin Films: Grazing Incidence XRay Characterization of Materials (D.K. Bowen, M. Wormington). WholePattern Fitting, Phase Analysis by Diffraction Methods: Phase Identification Using WholePattern Matching (D.K. Smith et al.). Polymer Applications of XRD. HighTemperature and NonAmbient Applications of XRD. Stress and Strain Determination by Diffraction Methods, Peak Broadening Analysis. XRD Techniques and Instrumentation. 71 additional articles. Index.
Advances in X-Ray Analysis: Vol 36
Gilfrich, John V./ Huang, Ting C./ Hubbard, Camden R. (Contributor)
- Hardcover
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Hardcover. Zustand: Brand New. 712 pages. 10.50x7.50x1.50 inches. In Stock.
Verlag: STOCK, 1947
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials.… Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
Verlag: STOCK, 1947
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In den WarenkorbCouverture souple. Zustand: bon. RO20189001: 1947. In-8. Broché. Bon état, Couv. convenable, Dos satisfaisant, Intérieur frais. VI + 299 pages - 1 dechirure sur le 2eme plat. . . . Classification Dewey : 810-Littérature américaine.
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In den WarenkorbMilano, Garzanti, 1947, 8vo brossura, pp. 431.
