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The Field Is the World: A History of the Canton Mission (1929-1949) of the Churches of Christ
Anbieter: Windows Booksellers, Eugene, OR, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Paperback. New book. 152 pp.
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The Field Is the World: A History of the Canton Mission (1929-1949) of the Churches of Christ
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 23,50
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 127 pages. 8.50x5.50x0.50 inches. In Stock.
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The Field Is the World: A History of the Canton Mission (1929-1949) of the Churches of Christ
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 21,90
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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The Field Is the World: A History of the Canton Mission (1929-1949) of the Churches of Christ
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 38,02
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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The Field Is the World: A History of the Canton Mission 19291949 of the Churches of Christ
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 42,60
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 156 pages. 5.50x0.44x8.50 inches. In Stock.
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Introduction to Statistics in Metrology
Anbieter: Books From California, Simi Valley, CA, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: Very Good.
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Introduction to Statistics in Metrology
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Introduction to Statistics in Metrology
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Introduction to Statistics in Metrology | Stephen Crowder (u. a.) | Taschenbuch | xxi | Englisch | 2021 | Springer | EAN 9783030533311 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Introduction to Statistics in Metrology
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides an overview of the application of statistical methods to problems in metrology, with emphasis on modelling measurement processes and quantifying their associated uncertainties. It covers everything from fundamentals to more advanced special topics, each illustrated with case studies from the authors' work in the Nuclear Security Enterprise (NSE). The material provides readers with a solid understanding of how to apply the techniques to metrology studies in a wide variety of contexts. The volume offers particular attention to uncertainty in decision making, design of experiments (DOEx) and curve fitting, along with special topics such as statistical process control (SPC), assessment of binary measurement systems, and new results on sample size selection in metrology studies. The methodologies presented are supported with R script when appropriate, and the code has been made available for readers to use in their own applications. Designed to promote collaboration between statistics and metrology, this book will be of use to practitioners of metrology as well as students and researchers in statistics and engineering disciplines.
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Introduction to Statistics in Metrology
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides an overview of the application of statistical methods to problems in metrology, with emphasis on modelling measurement processes and quantifying their associated uncertainties. It covers everything from fundamentals to more advanced special topics, each illustrated with case studies from the authors' work in the Nuclear Security Enterprise (NSE). The material provides readers with a solid understanding of how to apply the techniques to metrology studies in a wide variety of contexts. The volume offers particular attention to uncertainty in decision making, design of experiments (DOEx) and curve fitting, along with special topics such as statistical process control (SPC), assessment of binary measurement systems, and new results on sample size selection in metrology studies. The methodologies presented are supported with R script when appropriate, and the code has been made available for readers to use in their own applications. Designed to promote collaboration between statistics and metrology, this book will be of use to practitioners of metrology as well as students and researchers in statistics and engineering disciplines.
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Introduction to Statistics in Metrology
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 219,67
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 368 pages. 9.25x6.10x0.91 inches. In Stock.
