Cher ming tan (38 Ergebnisse)
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Paperback. Zustand: Brand New. 2013 edition. 112 pages. 9.37x6.14x0.39 inches. In Stock.
Future Learning in Primary Schools: A Singapore Perspective
Chai, Ching Sing (Edited by)/ Lim, Cher Ping (Edited by)/ TAN, Chun Ming (Edited by)
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Verlag: Springer Nature Singapore, Springer Nature Singapore, 2016
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This edited book tells the story of the multifaceted efforts devoted by a 'future school' in Singapore-The Nan Chiau Primary School-in shaping future learning. It documents the various measures implemented by one primary school to improve student lea…rning outcomes in a technology-rich teaching and learning environment. With the current interest in Singapore's 'Masterplan for ICT (information and communication technology) in Education,' and the increasing focus on teaching and learning design by leading education researchers and professionals, this well-timed book will appeal to policy makers, educators and researchers.
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Verlag: Springer Nature Singapore, Springer Nature Singapore, 2015
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This edited book tells the story of the multifaceted efforts devoted by a 'future school' in Singapore-The Nan Chiau Primary School-in shaping future learning. It documents the various measures implemented by one primary school to improve student learning o…utcomes in a technology-rich teaching and learning environment. With the current interest in Singapore's 'Masterplan for ICT (information and communication technology) in Education,' and the increasing focus on teaching and learning design by leading education researchers and professionals, this well-timed book will appeal to policy makers, educators and researchers.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Electromigration Modeling at Circuit Layout Level | Cher Ming Tan (u. a.) | Taschenbuch | SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology | ix | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9789814451208 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]h…artmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2011
Serie: Buch 17 von 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Verlag: Springer, 2013
Serie: Buch 17 von 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Verlag: Springer London, 2013
Serie: Buch 17 von 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Verlag: Springer London, 2011
Serie: Buch 17 von 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This edited book tells the story of the multifaceted efforts devoted by a ¿future school¿ in Singapore¿The Nan Chiau Primary School¿in shaping future learning. It documents the various measures implemented by one primary school to improve student lea…rning outcomes in a technology-rich teaching and learning environment. With the current interest in Singapore¿s ¿Masterplan for ICT (information and communication technology) in Education,¿ and the increasing focus on teaching and learning design by leading education researchers and professionals, this well-timed book will appeal to policy makers, educators and researchers.
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Verlag: Springer Verlag, 2013
Serie: Buch 17 von 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Paperback. Zustand: Brand New. 2011 edition. 208 pages. 9.25x6.10x0.38 inches. In Stock.
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Verlag: Springer, 2011
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Verlag: Springer, 2013
Serie: Buch 17 von 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections | Cher Ming Tan (u. a.) | Taschenbuch | Springer Series in Reliability Engineering | viii | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9781447126416 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17…, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 312 pages. 9.50x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Verlag: Springer, Springer London, 2011
Serie: Buch 17 von 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections provides a detailed description of the application of finite element methods (FEMs) to the study of ULSI interconnect reliability. Over the past two decades the applicat…ion of FEMs has become widespread and continues to lead to a much better understanding of reliability physics.To help readers cope with the increasing sophistication of FEMs' applications to interconnect reliability, Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections will:introduce the principle of FEMs;review numerical modeling of ULSI interconnect reliability;describe the physical mechanism of ULSI interconnect reliability encountered in the electronics industry; anddiscuss in detail the use of FEMs to understand and improve ULSI interconnect reliability from both the physical and practical perspective, incorporating the Monte Carlo method.A full-scale review of the numerical modeling methodology used in the study of interconnect reliability highlights useful and noteworthy techniques that have been developed recently. Many illustrations are used throughout the book to improve the reader's understanding of the methodology and its verification. Actual experimental results and micrographs on ULSI interconnects are also included.Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections is a good reference for researchers who are working on interconnect reliability modeling, as well as for those who want to know more about FEMs for reliability applications. It gives readers a thorough understanding of the applications of FEM to reliability modeling and an appreciation of the strengths and weaknesses of various numerical models for interconnect reliability.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections provides a detailed description of the application of finite element methods (FEMs) to the study of ULSI interconnect reliability. Over the past two decades the a…pplication of FEMs has become widespread and continues to lead to a much better understanding of reliability physics.To help readers cope with the increasing sophistication of FEMs' applications to interconnect reliability, Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections will:introduce the principle of FEMs;review numerical modeling of ULSI interconnect reliability;describe the physical mechanism of ULSI interconnect reliability encountered in the electronics industry; anddiscuss in detail the use of FEMs to understand and improve ULSI interconnect reliability from both the physical and practical perspective, incorporating the Monte Carlo method.A full-scale review of the numerical modeling methodology used in the study of interconnect reliability highlights useful and noteworthy techniques that have been developed recently. Many illustrations are used throughout the book to improve the reader's understanding of the methodology and its verification. Actual experimental results and micrographs on ULSI interconnects are also included.Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections is a good reference for researchers who are working on interconnect reliability modeling, as well as for those who want to know more about FEMs for reliability applications. It gives readers a thorough understanding of the applications of FEM to reliability modeling and an appreciation of the strengths and weaknesses of various numerical models for interconnect reliability.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections provides a detailed description of the application of finite element methods (FEMs) to the study of ULSI interconnect reliability. Over the past two decades the a…pplication of FEMs has become widespread and continues to lead to a much better understanding of reliability physics.To help readers cope with the increasing sophistication of FEMs¿ applications to interconnect reliability, Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections will:introduce the principle of FEMs;review numerical modeling of ULSI interconnect reliability;describe the physical mechanism of ULSI interconnect reliability encountered in the electronics industry; anddiscuss in detail the use of FEMs to understand and improve ULSI interconnect reliability from both the physical and practical perspective, incorporating the Monte Carlo method.A full-scale review of the numerical modeling methodology used in the study of interconnect reliability highlights useful and noteworthy techniques that have been developed recently. Many illustrations are used throughout the book to improve the reader¿s understanding of the methodology and its verification. Actual experimental results and micrographs on ULSI interconnects are also included.Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections is a good reference for researchers who are working on interconnect reliability modeling, as well as for those who want to know more about FEMs for reliability applications. It gives readers a thorough understanding of the applications of FEM to reliability modeling and an appreciation of the strengths and weaknesses of various numerical models for interconnect reliability.
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