Behnam ghavami u a (1 Ergebnisse)

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    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer, 2021

      3030516121 / 9783030516123

      • Softcover

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      Taschenbuch. Zustand: Neu. Soft Error Reliability of VLSI Circuits | Analysis and Mitigation Techniques | Behnam Ghavami (u. a.) | Taschenbuch | xiii | Englisch | 2021 | Springer | EAN 9783030516123 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[do