Behnam ghavami u a (1 Ergebnisse)

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Taschenbuch. Zustand: Neu. Soft Error Reliability of VLSI Circuits | Analysis and Mitigation Techniques | Behnam Ghavami (u. a.) | Taschenbuch | xiii | Englisch | 2021 | Springer | EAN 9783030516123 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[do…t]com | Anbieter: preigu.