Athreya arjun edt (1 Ergebnisse)
System Dependability and Analytics : Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives
Wang, Long (EDT); Pattabiraman, Karthik (EDT); Di Martino, Catello (EDT); Athreya, Arjun (EDT); Bagchi, Saurabh (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2022
Serie: Buch 79 von 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes KönigreichGreatBookPricesUK
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