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Low-Power Design of Nanometer FPGAs: Architecture and EDA (Systems on Silicon). Architecture and Eda.
Sprache: Englisch
Verlag: Morgan Kaufmann, 2009
Anbieter: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Wie neu. Illustrated edit. 256 S., Like new. Shrink wrapped. / Wie neu. In Folie verschweißt. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 865.
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Mapping Innovation
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Nature Switzerland AG, 2022
ISBN 10: 3030936260 ISBN 13: 9783030936266
Anbieter: PBShop.store US, Wood Dale, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
HRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Mapping Innovation
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Nature Switzerland AG, 2022
ISBN 10: 3030936260 ISBN 13: 9783030936266
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 48,94
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In den WarenkorbHRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Mapping Innovation: The Discipline of Building Opportunity across Value Chains
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 51,02
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Mapping Innovation: The Discipline of Building Opportunity across Value Chains
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 53,64
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Low-power design of nanometer FPGAs Architecture and EDA
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Low-Power Design of Nanometer FPGAs
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 65,01
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In den WarenkorbZustand: New. pp. 256 Illus.
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Multi-threshold Cmos Digital Circuits : Managing Leakage Power
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Low-Power Design Of Nanometer Fpgas
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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MAPPING INNOVATION
Anbieter: Speedyhen, Hertfordshire, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 44,91
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In den WarenkorbZustand: NEW.
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Mapping Innovation: The Discipline of Building Opportunity Across Value Chains
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 80,89
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 447 pages. 9.25x6.10x0.91 inches. In Stock.
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Mapping Innovation: The Discipline of Building Opportunity across Value Chains
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 82,90
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 447 pages. 9.25x6.10x1.00 inches. In Stock.
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Mapping Innovation : The Discipline of Building Opportunity across Value Chains
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, 2023
ISBN 10: 3030936295 ISBN 13: 9783030936297
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book is an eye-opener for businessesunveiling how technology trends can be deployed to redesign products, services and processes. The authors provide business opportunities based on technological innovation across 10 industrial sectors in easy to read case studies. Each case study is a story that narrates the potential and influence of a technological innovation on an enterprise, by defining the challenges faced, the type of technology adopted, and the impact.Provides readers with compelling reasons for implementing technology trends in industrial value chains;Written in a simple, easy to read and exciting manner to be accessible to readers with different backgrounds and interests;Uses a single, structured paradigm in all the case studies.
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Mapping Innovation : The Discipline of Building Opportunity across Value Chains
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2022
ISBN 10: 3030936260 ISBN 13: 9783030936266
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book is an eye-opener for businessesunveiling how technology trends can be deployed to redesign products, services and processes. The authors provide business opportunities based on technological innovation across 10 industrial sectors in easy to read case studies. Each case study is a story that narrates the potential and influence of a technological innovation on an enterprise, by defining the challenges faced, the type of technology adopted, and the impact.Provides readers with compelling reasons for implementing technology trends in industrial value chains;Written in a simple, easy to read and exciting manner to be accessible to readers with different backgrounds and interests;Uses a single, structured paradigm in all the case studies.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Mapping Innovation | The Discipline of Building Opportunity across Value Chains | Mohab Anis (u. a.) | Taschenbuch | xx | Englisch | 2023 | Springer | EAN 9783030936297 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 115,38
EUR 13,85 Versand
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Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Multi-Threshold CMOS Digital Circuits: Managing Leakage Power
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Multi-Threshold CMOS Digital Circuits: Managing Leakage Power
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 151,92
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 2013 edition. 186 pages. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock.
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Multi-Threshold Cmos Digital Circuits: Managing Leakage Power
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 153,79
EUR 14,45 Versand
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 216 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Multi-Threshold CMOS Digital Circuits | Managing Leakage Power | Mohab Anis (u. a.) | Taschenbuch | xxi | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461350538 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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EUR 116,09
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. This excellent survey of state-of-the-art techniques discusses the MTCMOS technology that has emerged as an increasingly popular technique to control the escalating leakage power, while maintaining high performance. It addresses the leakage problem in a .
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Multi-threshold CMOS Digital Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 2003
ISBN 10: 1402075294 ISBN 13: 9781402075292
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Discusses the Multi-threshold voltage CMOS (MTCMOS) technology, that has emerged as a popular technique to control the escalating leakage power, while maintaining high performance. This book addresses the leakage problem in a number of designs for combinational, sequential, dynamic, and current-steering logic. Num Pages: 216 pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 235 x 155 x 14. Weight in Grams: 536. . 2003. Illustrated ed. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Nanovate : Commercializing Disruptive Nanotechnologies
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, Springer International Publishing, 2016
ISBN 10: 3319448617 ISBN 13: 9783319448619
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book introduces readers from diverse backgrounds to the principles underlying nanotechnology, from devices to systems, while also describing in detail how businesses can use nanotechnology to redesign their products and processes, in order to have a clear edge over their competition. The authors include 75 case studies, describing in a highly-accessible manner, real nanotechnology innovations from 15 different industrial sectors. For each case study, the technology or business challenges faced by the company are highlighted, the type of nanotechnology adopted is defined, and the eventual economic and social impact is described.Introduces fundamentals of nanotechnology and its applications in a highly-accessible mannerIncludes 75 case studies of commercializing nanotechnology from 15 industrial sectors, including Automotive, Consumer Electronics, and Renewable EnergyEnables nanotechnology experts to learn simple and importantbusiness concepts to facilitate the transfer of science to the marketIntroduces business owners to various means to resolve industrial challenges using nanotechnologies.
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Nanometer Variation-Tolerant SRAM : Circuits and Statistical Design for Yield
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, Springer US, 2012
ISBN 10: 1461417481 ISBN 13: 9781461417484
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Variability is one of the most challenging obstacles for IC design in the nanometer regime. In nanometer technologies, SRAM show an increased sensitivity to process variations due to low-voltage operation requirements, which are aggravated by the strong demand for lower power consumption and cost, while achieving higher performance and density. With the drastic increase in memory densities, lower supply voltages, and higher variations, statistical simulation methodologies become imperative to estimate memory yield and optimize performance and power.This book is an invaluable reference on robust SRAM circuits and statistical design methodologies for researchers and practicing engineers in the field of memory design. It combines state of the art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. Provides comprehensive review of state-of-the-art, variation-tolerant SRAM circuit techniques; Discusses Impact of device related process variations and how they affect circuit and system performance, from a design point of view;Helps designers optimize memory yield, with practical statistical design methodologies and yield estimation techniques.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Nanovate | Commercializing Disruptive Nanotechnologies | Mohab Anis (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2018 | Springer | EAN 9783319831510 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Variability is one of the most challenging obstacles for IC design in the nanometer regime. In nanometer technologies, SRAM show an increased sensitivity to process variations due to low-voltage operation requirements, which are aggravated by the strong demand for lower power consumption and cost, while achieving higher performance and density. With the drastic increase in memory densities, lower supply voltages, and higher variations, statistical simulation methodologies become imperative to estimate memory yield and optimize performance and power. This book is an invaluable reference on robust SRAM circuits and statistical design methodologies for researchers and practicing engineers in the field of memory design. It combines state of the art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. Provides comprehensive review of state-of-the-art, variation-tolerant SRAM circuit techniques; Discusses Impact of device related process variations and how they affect circuit and system performance, from a design point of view; Helps designers optimize memory yield, with practical statistical design methodologies and yield estimation techniques.
