Albert k lu (8 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1995
Serie: Buch 88 von 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Hardcover
Anbieter: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, USAZubal-Books, Since 1961
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1995
Serie: Buch 88 von 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Hardcover
Anbieter: GridFreed, San Diego, CA, USAGridFreed
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Hardcover. Zustand: New. In shrink wrap.
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, Boston, 1995
Serie: Buch 88 von 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Hardcover
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hardcover. Zustand: Very Good. No Dust Jacket. Name from previous owner on FEP. No dust jacket. Binding is very well preserved, pages are clean and crisp, and printing is tight, clean and bright throughout. MB. Used.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2012
Serie: Buch 88 von 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1995
Serie: Buch 88 von 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US, 1995
Serie: Buch 88 von 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Hardcover
Anbieter: Buchpark, Trebbin, DeutschlandBuchpark
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Analog Signal Generation for Built-In-Self-Test (BIST) of Mixed-Signal Integrated Circuits is a concise introduction to a powerful new signal generation technique. The book begins with a brief introduction to the testing problem and a review of conventional si…gnal generation techniques. The book then describes an oversampling-based oscillator capable of generating high-precision analog tones using a combination of digital logic and D/A conversion. These concepts are then extended to multi-tone testing schemes without introducing a severe hardware penalty. The concepts are extended further to encompass piece-wise linear waveforms such as square, triangular and sawtooth waves. Experimental results are presented to verify the ideas in each chapter and finally, conclusions are drawn. For those readers unfamiliar with delta-sigma modulation techniques, a brief introduction to this subject is also provided in an appendix. The book is ideal for test engineers, researchers and circuits designers with an interest in IC testing methods.
- Softcover
Anbieter: Celler Versandantiquariat, Eicklingen, DeutschlandCeller Versandantiquariat
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Zustand: Gebraucht
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In den WarenkorbKluwer Academic Publishers, Boston, 1995. 122 pages, Paperback--- - former library book in good condition - 426 Gramm.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US, 2012
Serie: Buch 88 von 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Softcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Analog Signal Generation for Built-In-Self-Test (BIST) of Mixed-Signal Integrated Circuits is a concise introduction to a powerful new signal generation technique. The book begins with a brief introduction to the testing problem and a review of conve…ntional signal generation techniques. The book then describes an oversampling-based oscillator capable of generating high-precision analog tones using a combination of digital logic and D/A conversion. These concepts are then extended to multi-tone testing schemes without introducing a severe hardware penalty. The concepts are extended further to encompass piece-wise linear waveforms such as square, triangular and sawtooth waves. Experimental results are presented to verify the ideas in each chapter and finally, conclusions are drawn. For those readers unfamiliar with delta-sigma modulation techniques, a brief introduction to this subject is also provided in an appendix. The book is ideal for test engineers, researchers and circuits designers with an interest in IC testing methods.
