Power-Constrained Testing of VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)

Nicolici, Nicola, Al-Hashimi, Bashir M.

ISBN 10: 140207235X ISBN 13: 9781402072352
Verlag: Kluwer, 2003
Sprache: Englisch
Zustand: Gebraucht - Befriedigend Hardcover

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